[发明专利]一种VCSEL器件的纳秒级LIV测试系统及方法

权利要求书

1.一种VCSEL器件的纳秒级LIV测试方法，其特征在于，方法包括：

获取驱动信号源所发出的脉冲信号，以及可程控稳压电源所输出的指定的步进电压，将所述脉冲信号与比较器中的基准信号进行比较，从而输出上升沿和下降沿更快的脉冲信号；

基于上升沿和下降沿更快的脉冲信号，进入GaN驱动器进一步提升脉冲信号的输出强度，输出到GaN功率管，确保GaN功率管快速开启和关闭；

基于比较器中比较以及GaN功率管内驱动电路驱动后所输出的光脉冲，获取光纤收集到的光脉宽波形，判断所得到的光脉宽与输入脉宽宽度是否相同；

响应于所得到的光脉宽与输入脉宽宽度不同，则根据光脉宽波形差异计算新脉宽，并使所述新脉宽输入所述驱动信号源，发出新的脉冲信号；

响应于所得到的光脉宽与输入脉宽宽度相同，则持续输出光脉宽；

获取高速PD所采集到的经过小型积分球收光后的光功率以及示波器中输出光脉冲的波形起始时间、波形结束时间、通过积分球后的t时间位置的瞬时光功率和通过积分球前的t时间位置的瞬时光功率相对幅值，计算所需要的光功率，公式如下：

P_出射：通过积分球后的总光功率；

P_t入射：通过积分球前的t时间位置的瞬时光功率绝对值；

tr：波形起始时间；

tf：波形结束时间；

P_t：通过积分球后的t时间位置的瞬时光功率；

P′_t：通过积分球前的t时间位置的瞬时光功率相对幅值；

基于可程控稳压电源所输出的指定的步进电压，采集相应光功率、电压以及电流读数；

基于经过高速PD放大后的脉冲信号和所述电压的峰值，计算相应光功率，公式如下：

P：光功率；

V_peak：示波器采集到所述电压的峰值；

S_PD：PD有效感应面积；

S_{integratingsphere}:积分球面积；

R_PD:PD响应率；

响应于光功率、电压以及电流读数，计算获得对应的LIV曲线。