[发明专利]一种GPIO的测试方法和器件

权利要求书

1.一种GPIO的测试方法，其特征在于，所述方法包括：

给待测试器件的每个GPIO都外加一个下拉电阻；将一个所述GPIO指定为输入端口，称为输入GPIO；将余下的所述GPIO称为轮测GPIO；每个所述轮测GPIO还串接了一个肖特基二极管，每个所述肖特基二极管的正极接各自的所述轮测GPIO，负极都连接到所述输入GPIO上；

给所述待测试器件通电开机；

依次逐个将所述轮测GPIO配置成输出模式；被配置成输出模式的所述轮测GPIO称为高电平轮测GPIO；余下的所述GPIO均配置为输入模式；被配置成输入模式的所述轮测GPIO称为输入态轮测GPIO；

所述高电平轮测GPIO输出高电平信号；

检测所有被配置为输入模式的所述GPIO的输入信号；

当所述输入GPIO的输入信号为恒定的所述高电平信号或所述低电平信号时，所述输入GPIO存在故障，所述测试以失败结束；

当有所述输入态轮测GPIO检测到的是所述高电平信号时，可判定存在具有短路故障的所述GPIO，即所述待测试器件存在故障，所述测试以失败结束；

当所述输入GPIO检测到的是低电平信号时，可判定所述高电平轮测GPIO存在开路故障，即所述待测试器件存在故障，所述测试以失败结束；

在所有所述轮测GPIO依次逐个输出所述高电平信号的过程中，所述输入GPIO的所述输入信号有所述高电平信号和所述低电平信号的变化，且在所述高电平轮测GPIO输出所述高电平信号时，每次均是所有的所述输入态轮测GPIO检测到的都是所述低电平信号，所述输入GPIO检测到的是所述高电平信号，可判定所述待测试器件不存在故障，所述测试结束。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在所述待测试器件通电开机后，先进行开路故障预检；

所述开路故障预检包括：

将所有的所述GPIO配置成输入模式；

当有所述GPIO检测到的是所述高电平信号时，存在具有开路故障的所述GPIO，即所述待测试模块存在故障，所述测试以失败结束；

当所有所述GPIO检测到的都是所述低电平信号时，不存在具有开路故障的所述GPIO，所述测试继续进行。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

当所述测试以失败结束时，提示报错信息。