[发明专利]相控阵天线快速自动校准方法、装置及系统

权利要求书

1.一种相控阵天线快速自动校准方法，其特征在于，包括：

S1：获取相控阵天线姿态信息；

S2：计算并控制第一波束指向；

S3：对所述第一波束进行测试寻优；

S4：根据步骤S3得到的电平值记录表计算并控制第二波束指向；

S5：对所述第二波束进行测试寻优；

S6：将步骤S3和步骤S5得到的电平值记录表中的控制电平值与计算得到的电平值进行对比并计算均方差；

S7：比较所述均方差与第一阈值和第二阈值之间的大小关系；

若所述均方差小于所述第一阈值，则根据步骤S3得到的电平值记录表进行波束计算及控制；

若所述均方差大于所述第一阈值小于所述第二阈值，则根据步骤S5得到的电平值记录表进行波束计算及控制；

若所述均方差大于所述第二阈值，则调整所述第一波束和所述第二波束之间的距离，对所述第二波束再次进行测试寻优，并将寻优得到的电平值记录表中的控制电平值与所述第一波束测试寻优得到的电平值记录表中的控制电平值进行均方差数值计算，再次与所述第二阈值对比，直到小于所述第二阈值；

所述测试寻优具体为：通过与集总开关导通的射频电磁波发射器捕获相控阵天线的最大信号功率，由信号采集设备进行电平采集后传送至总控终端，由总控终端记录并分析获取所述最大信号功率值时加载的控制电平值，记录并保持。

2.根据权利要求1所述的相控阵天线快速自动校准方法，其特征在于，所述测试寻优包括深度行扫描和深度列扫描。

3.根据权利要求2所述的相控阵天线快速自动校准方法，其特征在于，所述深度行扫描和所述深度列扫描具体为：

S11：控制第一行的加载电平；

S12：获取所述第一行在最大信号功率时采集的电平；

S13：记录并分析获取所述最大信号功率时所述第一行加载的控制电平值，记录并保持；

S14：以所述第一行保持的所述控制电平值为基准，继续执行S11至S13，直至最后一行；

S15：按列重复执行S11至S14。

4.根据权利要求1所述的相控阵天线快速自动校准方法，其特征在于，对所述第一波束和所述第二波束进行测试寻优时连续执行两次测试寻优。

5.根据权利要求1所述的相控阵天线快速自动校准方法，其特征在于，在所述第一波束和所述第二波束之间的区域，根据就近指向角计算电平值并进行波束计算及控制。

6.根据权利要求1所述的相控阵天线快速自动校准方法，其特征在于，所述第一波束和所述第二波束为相邻的两个波束。

7.根据权利要求1所述的相控阵天线快速自动校准方法，其特征在于，若所述均方差大于所述第二阈值，则调整所述第一波束和所述第二波束之间的距离，具体为：将所述第二波束往所述第一波束区域靠近。

8.根据权利要求1所述的相控阵天线快速自动校准方法，其特征在于，8×8相控阵天线的第一阈值为5％，第二阈值为12％。