[发明专利]硼掺杂选择性发射极、制备方法及N型太阳能电池在审
申请号: | 202210080520.2 | 申请日: | 2022-01-24 |
公开(公告)号: | CN114497245A | 公开(公告)日: | 2022-05-13 |
发明(设计)人: | 张峰;夏益民;张淳 | 申请(专利权)人: | 三一重能股份有限公司 |
主分类号: | H01L31/0224 | 分类号: | H01L31/0224;H01L31/18;H01L31/068 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 沈军 |
地址: | 102206 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 掺杂 选择性 发射极 制备 方法 太阳能电池 | ||
1.一种硼掺杂选择性发射极的制备方法,其特征在于,包括:
对N型硅片进行预处理;
在预处理后的N型硅片的正面,以低压气相沉积的方式制备硼掺杂多晶硅层,得到半成品;
对半成品依次进行激光掺杂与退火,得到硼掺杂选择性发射极;
其中,所述硼掺杂多晶硅层包括硅沉积层与硼沉积层,所述硅沉积层与所述硼沉积层呈叠层分布。
2.根据权利要求1所述的硼掺杂选择性发射极的制备方法,其特征在于,在制备所述硼掺杂多晶硅层之前,还包括:
采用干法氧化工艺,在N型硅片的正面制备隧穿氧化层。
3.根据权利要求2所述的硼掺杂选择性发射极的制备方法,其特征在于,所述采用干法氧化工艺,在N型硅片的正面制备隧穿氧化层的步骤,包括:
对N型硅片所在的真空环境通入第一质量流量的氧气,在第一温度与第一压力条件下,对N型硅片氧化处理第一时长,以在N型硅片的正面制备第一厚度的隧穿氧化层。
4.根据权利要求3所述的硼掺杂选择性发射极的制备方法,其特征在于,所述第一温度为500~600℃,所述第一质量流量为5~40slm,所述第一压力为一个标准大气压,所述第一时长为5~20min,所述第一厚度为1~2nm。
5.根据权利要求2至4任一所述的硼掺杂选择性发射极的制备方法,其特征在于,所述在N型硅片的正面以气相沉积的方式制备硼掺杂多晶硅层的步骤包括:
第一沉积步骤,对N型硅片所在的真空环境通入第二质量流量的硅源,在第二温度与第二压力条件下,在N型硅片上进行第一硅沉积层的气相沉积,控制沉积时间为第二时长;
第二沉积步骤,对N型硅片所在的真空环境通入第三质量流量的硼源,在第二温度与第三压力条件下,在第一硅沉积层上进行硼沉积层的气相沉积,控制沉积时间为第三时长;
第三沉积步骤,对N型硅片所在的真空环境通入第四质量流量的硅源,在第二温度与第四压力条件下,在硼沉积层上进行第二硅沉积层的气相沉积,控制沉积时间为第四时长。
6.根据权利要求5所述的硼掺杂选择性发射极的制备方法,其特征在于,按照所述第一沉积步骤至所述第三沉积步骤的工艺操作顺序,进行至少一次工艺循环。
7.根据权利要求5所述的硼掺杂选择性发射极的制备方法,其特征在于,所述第二质量流量为300~1200sccm,所述第二压力为70~300mtorr,所述第二时长为2~20min;
和/或,所述第三质量流量为200~1000sccm,所述第三压力为50~150mtorr,所述第三时长为1~10min;
和/或,所述第四质量流量为300~1200sccm,所述第四压力为70~300mtorr,所述第四时长为2~20min。
8.根据权利要求2至4任一所述的硼掺杂选择性发射极的制备方法,其特征在于,采用低压化学气相沉积炉在N型硅片的正面以低压气相沉积的方式制备硼掺杂多晶硅层;
在对N型硅片进行低压气相沉积之前,还包括:
对所述低压化学气相沉积炉进行抽真空和吹扫,排除所述低压化学气相沉积炉内的氧气;
对所述低压化学气相沉积炉进行气密性检测;
将所述低压化学气相沉积炉预先加热至第二温度,控制加热时间为第五时长。
9.一种硼掺杂选择性发射极,其特征在于,所述硼掺杂选择性发射极采用如权利要求1至8任一所述的硼掺杂选择性发射极的制备方法制备而成。
10.一种N型太阳能电池,其特征在于,包括如权利要求9所述的硼掺杂选择性发射极。
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