[发明专利]一种红外无损检测的缺陷几何特征提取方法有效

专利信息
申请号: 202210092133.0 申请日: 2022-01-26
公开(公告)号: CN114487014B 公开(公告)日: 2023-05-09
发明(设计)人: 郑虎;李吉;涂一航;龙嘉威;蔡林宏;李恩 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01N25/72 分类号: G01N25/72;G01N29/04
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 吴姗霖
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 红外 无损 检测 缺陷 几何 特征 提取 方法
【权利要求书】:

1.一种红外无损检测的缺陷几何特征提取方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤1.对获取的红外无损检测图像采用基于遗传算法的最大熵法双阈值分割,具体过程为:

步骤1.1.设定阈值S1和S2,且S1S2;

步骤1.2.计算红外无损检测图像的整体熵值,具体计算过程为:

红外无损检测图像的灰度级为L,计算出图像像素灰度级的直方图,单阈值为T的图像其熵值为:

其中,pi为直方图中第i个灰度出现的概率;

设红外无损检测图像划分为A、B和C三个区域,对应阈值为S1和S2,且S1<S2,给定如下公式:

则可以得三类概率分布为:

A:

B:

C:

根据上式可以得到A、B和C三个区域的熵:

则可以得到此时图像的熵为:

步骤1.3.采用遗传算法求解步骤1.2中红外无损检测图像整体熵值最大时S1和S2的具体数值,并基于阈值将图像划分为有缺陷区域、热扩散区域和无缺陷区域;

步骤2.利用形态学边缘检测对双阈值分割后的图像进行二次分割,具体过程为:

步骤2.1.根据图像像素值的大小定位缺陷膨胀白色区域,然后腐蚀无关孔;

步骤2.2.去除图像的杂点;

步骤2.3.进行骨架提取,然后进行边缘识别,即可得到所需的缺陷区域。

2.如权利要求1所述的缺陷几何特征提取方法,其特征在于,步骤1.3中采用遗传算法求解红外无损检测图像整体熵值最大时S1和S2的值的具体过程包括编码、种群规模、计算适应度函数、选择操作、异操作、交叉操作和终止准则。

3.如权利要求1所述的缺陷几何特征提取方法,其特征在于,步骤2.1中缺陷膨胀白色区域的像素值大小为255。

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