[发明专利]基于飞针的电路板功能测试方法及设备

权利要求书

1.一种基于飞针的电路板功能测试方法，其特征在于，包括：

确定电路板上的待测试节点；

对所述电路板进行上电；

驱动飞针依次移动至各所述待测试节点，获取各所述待测试节点处的电路信号；

根据各所述待测试节点处的电路信号对所述电路板进行诊断。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定电路板上的待测试节点，包括：

获取所述电路板的配置文件；

根据所述电路板的配置文件，确定所述电路板上的各所述待测试节点。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述驱动飞针依次移动至各所述待测试节点，包括：

根据所述电路板的配置文件，确定各所述待测试节点在所述电路板上的坐标值；

根据各所述待测试节点在所述电路板上的坐标值，驱动所述飞针依次移动至各所述待测试节点。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述电路板的配置文件至少包括：各所述待测试节点在所述电路板上的空间位置信息。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据各所述待测试节点处的电路信号对所述电路板进行诊断前，所述方法还包括：

接收用户录入的测试文件；所述测试文件中包括所述用户对所述电路板的测试指标。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取各所述待测试节点处的电路信号，包括：

获取各所述待测试节点输入通道与输出通道的中间环节电路信号。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述中间环节电路信号至少包括：电压信号、频率信号和波形信号。

8.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据各所述待测试节点处的电路信号对所述电路板进行诊断，包括：

将各所述待测试节点处的电路信号与所述测试指标进行对比，生成对比结果；

根据所述对比结果生成诊断结果。

9.一种基于飞针的电路板功能测试设备，其特征在于，包括：

控制器，飞针和驱动电机；

所述控制器确定电路板上的待测试节点，对所述电路板进行上电，通过所述驱动电机驱动所述飞针依次移动至各所述待测试节点；

所述飞针用于获取各所述待测试节点处的电路信号；

所述控制器还根据各所述待测试节点处的电路信号对所述电路板进行诊断。