[发明专利]自动分类发射器结构的方法、执行方法的设备和存储介质

说明书

本发明涉及用于自动分类构成用于发射电子用于产生X射线的发射器结构的设备、机器可读的程序代码、存储介质和方法，基于发射器结构的参考图像实现分类，分类包括第一类别和至少一个第二类别，第一类别对应于基本上无缺陷的发射器结构并且第二类别对应于有缺陷的发射器结构。通过如下方式：为了分类，使用构造为由亮场图像和暗场图像构成的融合图像的图像，并且根据所述融合图像借助于用于分类所述发射器结构的训练用于分类所述发射器结构的人工神经网络将发射器结构分类成第一类别和至少第二类别，并且其中产生用于输出借助于分类确定的对于所述发射器结构的类别的信号，则可以提供发射器结构的改进的缺陷检验。

技术领域

本发明涉及一种计算机实施的用于自动分类发射器结构的方法，所述发射器结构构成用于发射电子以产生X射线，其中基于发射器结构的参考图像(herangezogenen Bild)进行分类，其中分类包括第一类别和至少一个第二类别，其中第一类别对应于基本上无缺陷的发射器结构并且至少一个第二类别对应于有缺陷的发射器结构。此外，本发明还涉及一种用于执行所述方法的设备、以及一种机器可读的程序代码和一种具有用于执行所述方法的机器可读的程序代码的存储介质。

背景技术

为了产生X射线实现不同方案。为了产生X射线、尤其用于医疗使用的X射线，典型地将电子加速到阳极。通过被加速的电子与阳极的相互作用产生X辐射。对于产生的X辐射的质量重要的是提供为此使用的电子。

用于产生X射线的电子借助于发射器提供，所述发射器发射用于产生X射线的电子。

通常，电子借助于热学发射产生，例如借助于热离子发射器如加热线或借助于能够通过电流流动加热的面发射器产生。对应的面发射器例如在DE 10 2010 020 151 A1或DE 10 2006 018 633 A1中描述。

面发射器的形成发射面的部分通常包括一个或多个薄的板材，所述板材由耐高温的金属如钨制成。为了在板材面的定义区域中获得发射，必须将面发射器加热到大约2000–2500摄氏度的高温。这借助于电流和发射器材料的固有电阻实现。

为了达到定义的欧姆电阻，板材材料通常通过引入尽可能精确的切口或裂缝而被结构化。这种热离子面发射器的发射器板材设有加热电流连接端，经由所述加热电流连接端引导加热电流穿过发射器板材。受发射器板材所加热到的高温所决定，电子从发射器板材发射并且借助于高压朝向阳极加速。

在从发射器板材至阳极的路径上，所发射的电子经由聚焦系统被聚焦。在电子在焦斑中射到同样由耐高温材料例如钨制成的阳极上时，通过电子在阳极材料中的制动产生X辐射。

也越来越多地使用场效应发射器，其中电子借助于场效应从阴极发射。场效应发射器通常包括针状结构，例如由材料硅、碳化硅或由碳纳米管构成的针状结构。通过针尖处的对应的电场强度，电子被从发射器结构释放。在场效应发射器中电子的所述发射还可以热学地受到支持。然后，电子被同样以所希望的方式加速到阳极上。

因此，用于产生电子的设置用于产生X射线的全部发射器具有发射器结构，发射器结构影响发射器的功能能力。

对于发射器的良好发射性能决定性的是，尽可能无缺陷地制造发射器。发射器结构中的缺陷通常导致之后的构件故障，导致在发射时更低的发射效率或不希望的电子分布，这负面地作用于借此产生的X辐射的质量。

至今由对应人员手动检查发射器是否有无缺陷。这是人员耗费的、费时的且不可靠的，因为缺陷的辨识在于个体人员的判断和经验。缺陷的识别尤其取决于检查人员的专注状态。

由于高耗费，通常在存在缺陷的情况下才检验发射器构件，以便查明构件故障的原因。在投入使用之前对所制造的发射器尤其所有所制造的发射器进行检查同样由于耗费通常并不普遍。

发明内容

因此，本发明的目的是，提供一种方法、一种设备、一种机器可读的程序代码或一种具有机器可读的程序代码的存储介质，利用其可以改进发射器结构的缺陷检验。