[发明专利]一种基于transformer模型的铆钉缺陷检测方法及系统

权利要求书

1.一种基于transformer模型的铆钉缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取待检测产品表面的原始图片，并将所述原始图像输入transformer模型；

通过所述transformer模型生成含有各个区域像素值的掩码图；

根据所述各个区域的像素值确定各个区域的缺陷概率；

将所述缺陷概率高的区域与所述原始图片进行对应；

根据对应结果确定所述原始图片内的缺陷。

2.根据权利要求1所述的一种基于transformer模型的铆钉缺陷检测方法，其特征在于：在所述获取待检测产品的表面原始图片，并将所述表面原始图像输入transformer模型之前，包括：

获取含有各种缺陷的产品表面图片，并提取所述产品表面图片中含有各种缺陷的区域；

计算出所述含有各种缺陷的区域的像素值，并对像素值进行标注；

利用标注好的像素值训练transformer模型。

3.根据权利要求1所述的一种基于transformer模型的铆钉缺陷检测方法，其特征在于：所述通过所述transformer模型生成对应所述原始图像的掩码图，包括：

对获取待检测产品表面的原始图片进行编码处理；

根据编码处理结果生成低分辨率的特征图；

对所述低分辨率的特征图进行解码处理；

根据解码处理生成含有各个区域像素值的掩码图。

4.根据权利要求3所述的一种基于transformer模型的铆钉缺陷检测方法，其特征在于：所述对获取待检测产品表面的原始图片进行编码处理，根据编码处理结果生成低分辨率的特征图，包括：

将所述原始图片分成多个区域；

多次提取多个区域内的普通特征和显著性特征；

根据提取的普通特征和显著性特征生成特征图；

压缩所述特征图的分辨率，根据压缩结果生成低分辨率的特征图。

5.根据权利要求3所述的一种基于transformer模型的铆钉缺陷检测方法，其特征在于：在所述对所述低分辨率的特征图进行解码处理，根据解码处理生成含有各个区域像素值的掩码图，包括：

提升低分辨率的特征图的分辨率，根据提升结果生成高分别率的特征图；

根据高分辨率的特征图生成含有各个区域像素值的掩码图。

6.根据权利要求1所述的一种基于transformer模型的铆钉缺陷检测方法，其特征在于：所述根据所述各个区域的像素值确定各个区域的缺陷概率，包括：

根据所述各个区域的像素值与预设阈值之间的差值确认各个区域的缺陷概率的高低，其中，该区域像素值与预设阈值之间的差值越小，则该区域的缺陷概率越高。

7.根据权利要求1所述的一种基于transformer模型的铆钉缺陷检测方法，其特征在于：在所述根据所述各个区域的像素值确定各个区域的缺陷概率之前，包括：

根据所述掩码图的参数对掩码图进行筛选，根据筛选结果得到符合条件的掩码图。

8.一种基于transformer模型的铆钉缺陷检测系统，其特征在于：包括：

获取模块，用于获取待检测产品表面的原始图片，并将所述原始图像输入transformer模型；

处理模块，用于通过所述transformer模型生成含有各个区域像素值的掩码图，根据所述各个区域的像素值确定各个区域的缺陷概率；

对应模块，用于将所述缺陷概率高的区域与所述原始图片进行对应，根据对应结果确定所述原始图片内的缺陷。

9.一种服务器，其特征在于，包括：

至少一个处理器；以及，

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行如权利要求1至7中任一所述的一种基于transformer模型的铆钉缺陷检测方法。

10.一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一所述的一种基于transformer模型的铆钉缺陷检测方法。