[发明专利]一种ADC电路及其控制方法

说明书

本发明提供一种ADC电路及其控制方法，属于电子技术领域。所述ADC电路至少包括：模数转换模块，校准模块；所述模数转换模块，被配置为在转换期间，当第一控制信号为第一电平时，基于采样的第一信号输出对应的第一数字信号，当所述第一控制信号为第二电平时，基于采样的第二信号输出对应的第二数字信号；所述校准模块与所述模数转换模块连接，被配置为基于校准期间得到的失配码确定校准码，对所述模数转换模块进行校准码回补；其中，所述第一控制信号在采样期间进行电平切换。采用本发明，可以实现对模数转换模块的差分模式和单端模式的连续校准。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种ADC电路及其控制方法。

背景技术

在电子技术领域中，模拟数字转换器(Analog-to-Digital Converter,ADC)电路可以用于信号测量，将模拟信号转换为数字信号。

在某些应用场景下，需要支持连续测量不同输入通道的差分信号和单端信号。目前常规做法是，通过切换ADC工作模式，利用差分模式和单端模式分别处理差分信号和单端信号。

但是，现有的ADC不能连续运行两种工作模式，例如，需要对差分信号处理完毕后，才会重新配置ADC，再对单端信号进行处理，中间会存在冗余的模式切换时间，不能连续运行。并且当对ADC精度要求比较高时，需要对ADC进行校准，传统方法也无法满足连续对ADC差分模式和单端模式进行校准。

发明内容

为了解决现有技术的问题，本发明实施例提供了一种ADC电路及其控制方法。技术方案如下：

根据本发明的一方面，提供了一种ADC电路，所述ADC电路至少包括：模数转换模块，校准模块；

所述模数转换模块，被配置为在转换期间，当第一控制信号为第一电平时，基于采样的第一信号输出对应的第一数字信号，当所述第一控制信号为第二电平时，基于采样的第二信号输出对应的第二数字信号；

所述校准模块与所述模数转换模块连接，被配置为基于校准期间得到的失配码确定校准码，对所述模数转换模块进行校准码回补；

其中，所述第一控制信号在采样期间进行电平切换。

可选的，所述校准模块包括校准数模转换模块，校准算法模块，校准控制模块；

所述校准算法模块的输入端与所述模数转换模块连接，输出端与所述校准控制模块连接，被配置为当所述第一控制信号为所述第一电平时，基于所述失配码确定所述第一信号对应的第一校准码；当所述第一控制信号为所述第二电平时，基于所述失配码确定所述第二信号对应的第二校准码；

所述校准控制模块，被配置为在所述转换期间，将所述校准算法模块当前输出的校准码传输至所述校准数模转换模块；

所述校准数模转换模块，被配置为在所述转换期间，基于当前接收的校准码对所述数模转换模块进行电压回补。

可选的，所述校准算法模块，还被配置为存储所述失配码。

可选的，所述校准控制模块，还被配置为在所述采样期间，将校准码设置为预设的中间校准码，将所述中间校准码传输至所述校准数模转换模块。

可选的，所述ADC电路还包括输入预处理模块，所述输入预处理模块的输出端与所述模数转换模块的输入端连接；

所述输入预处理模块用于接收输入信号，被配置为当第二控制信号为与所述第一电平相匹配的第三电平时，基于所述输入信号输出所述第一信号；当所述第二控制信号为与所述第二电平相匹配的第四电平时，基于所述输入信号输出所述第二信号；

其中，所述第二控制信号在所述转换期间进行电平切换。

可选的，所述输入预处理模块至少包括第一开关；