[发明专利]基于脑电信号的专注力评估方法、装置、设备及存储介质有效
申请号: | 202210127155.6 | 申请日: | 2022-02-11 |
公开(公告)号: | CN114159064B | 公开(公告)日: | 2022-05-17 |
发明(设计)人: | 韩璧丞;王伊宁;阿迪斯;王俊霖;丁小玉 | 申请(专利权)人: | 深圳市心流科技有限公司 |
主分类号: | A61B5/16 | 分类号: | A61B5/16;A61B5/369;A61B5/372 |
代理公司: | 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 | 代理人: | 孙果 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区西丽街道松坪*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 电信号 专注 评估 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
1.一种基于脑电信号的专注力评估方法,其特征在于,包括:
获取待评估用户的脑电信号;
绘制脑电信号随时间变化的曲线,得到脑电曲线;
计算所述脑电曲线偏离脑电基准曲线的程度,得到偏离程度,所述脑电基准曲线为专注力达到标准的用户产生的脑电信号形成的曲线;
依据所述偏离程度,得到专注力评估结果;
所述计算所述脑电曲线偏离脑电基准曲线的程度,得到偏离程度,所述脑电基准曲线为专注力达到标准的用户产生的脑电信号形成的曲线,包括:
将所述脑电曲线偏离所述脑电基准曲线的程度大于设定值所对应的曲线段,记为偏离曲线段;
依据所述偏离曲线段,得到所述偏离曲线段所持续的偏离时长;
依据所述偏离曲线段,得到所述脑电基准曲线上与所述偏离曲线段相匹配的基准曲线段;
当所述偏离曲线段的长度大于设定长度时,计算所述偏离曲线段与所述基准曲线段在所述偏离时长内所围成的面积,记为偏离面积;
依据所述偏离面积,得到偏离程度;
或者,所述计算所述脑电曲线偏离脑电基准曲线的程度,得到偏离程度,所述脑电基准曲线为专注力达到标准的用户产生的脑电信号形成的曲线,包括:
依据所述脑电基准曲线,得到与所述脑电基准曲线所对应的基准上限曲线和基准下限曲线,在同一时刻时,所述基准上限曲线上的脑电信号强度大于所述脑电基准曲线上的脑电信号强度,所述基准下限曲线上的脑电信号强度小于所述脑电基准曲线上的脑电信号强度;
计算所述脑电曲线偏离所述基准上限曲线的程度大于第一预设值所对应的曲线段,记为偏离第一曲线段;
计算所述脑电曲线偏离所述基准下限曲线的程度大于第二预设值所对应的曲线段,记为偏离第二曲线段;
依据所述偏离第一曲线段,得到所述偏离第一曲线段所持续的第一偏离时长;
依据所述偏离第二曲线段,得到所述偏离第二曲线段所持续的第二偏离时长;
依据所述偏离第一曲线段,得到所述基准上限曲线上与所述偏离第一曲线段所对应的基准第一曲线段;
依据所述偏离第二曲线段,得到所述基准下限曲线上与所述偏离第二曲线段所对应的基准第二曲线段;
计算所述偏离第一曲线段和所述基准第一曲线段在所述第一偏离时长内围成的面积,记为偏离第一面积;
计算所述偏离第二曲线段和所述基准第二曲线段在所述第二偏离时长内围成的面积,记为偏离第二面积;
依据所述偏离第一面积和所述偏离第二面积,得到偏离程度。
2.如权利要求1所述的基于脑电信号的专注力评估方法,其特征在于,所述依据所述偏离程度,得到专注力评估结果,包括:
统计所述脑电曲线上除所述偏离曲线段之外的达标曲线段;
计算所述达标曲线段与所述脑电基准曲线所围成的面积,记为达标面积;
计算所述偏离程度中的所述偏离面积与所述达标面积的比值,得到比值结果;
依据所述比值结果,得到专注力评估结果。
3.如权利要求1所述的基于脑电信号的专注力评估方法,其特征在于,所述获取待评估用户的脑电信号,包括:
获取上一时段待评估用户的脑电信号;
依据所述上一时段的脑电信号的波动程度,得到下一时段的采集脑电信号所对应的采集频率;
依据所述采集频率,采集待评估用户的下一时段的脑电信号;
依据各个时段的脑电信号,得到待评估用户的脑电信号。
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