[发明专利]估计电路的电阻-电容时间常数有效
申请号: | 202210128838.3 | 申请日: | 2022-02-11 |
公开(公告)号: | CN114927150B | 公开(公告)日: | 2023-01-03 |
发明(设计)人: | 詹桓佑;M·罗西尼;徐峻 | 申请(专利权)人: | 美光科技公司 |
主分类号: | G11C8/08 | 分类号: | G11C8/08;G11C7/12 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 王龙 |
地址: | 美国爱*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 估计 电路 电阻 电容 时间常数 | ||
描述用于估计电路的(例如,存储器装置的字线的)电阻‑电容时间常数的系统和方法。实例系统包括:存储器装置,其包括电耦合到多个字线的多个存储器单元;电阻‑电容RC测量电路,其用以测量所述多个字线中的指定字线处的电压;和处理装置,其耦合到所述存储器装置。所述处理装置配置成:将初始电压施加到所述多个字线中的选定字线;将所述选定字线放电持续放电时间段;使所述选定字线浮动直到所述选定字线处的电压稳定为止;由所述RC测量电路确定所述选定字线处的稳定电压;和基于所述稳定电压估计所述字线的RC时间常数。
技术领域
本公开的实施例大体上涉及存储器子系统,且更具体来说,涉及估计电路(例如,存储器装置的字线的)的电阻-电容时间常数。
背景技术
信号跨电路的传播可通过电阻性-电容性效应主导。电阻性-电容性延迟可成为影响电路的性能的重要因素。
发明内容
在一方面中,本申请提供一种系统,其包括:存储器装置,其包括电耦合到多个字线的多个存储器单元;电阻-电容RC测量电路,其用以测量所述多个字线中的指定字线处的电压;和处理装置,其耦合到所述存储器装置,所述处理装置用以:将初始电压施加到所述多个字线中的选定字线;将所述选定字线放电持续放电时间段;使所述选定字线浮动直到所述选定字线处的电压稳定为止;由所述RC测量电路确定所述选定字线处的稳定电压;和基于所述稳定电压估计所述字线的RC时间常数。
在另一方面中,本申请提供一种方法,其包括:由管理存储器装置的控制器的处理装置将初始电压施加到所述存储器装置的选定字线;将所述选定字线放电持续放电时间段;使所述选定字线浮动直到所述选定字线处的电压稳定为止;确定所述选定字线处的稳定电压;和基于所述稳定电压估计所述字线的电阻-电容RC时间常数。
在又一方面中,本申请提供一种包括可执行指令的计算机可读非暂时性存储媒体,所述可执行指令在由管理存储器装置的控制器的处理装置执行时使得所述处理装置:将初始电压施加到所述存储器装置的选定字线;将所述选定字线放电持续放电时间段;使所述选定字线浮动直到所述选定字线处的电压稳定为止;确定所述选定字线处的稳定电压;和基于所述稳定电压估计所述字线的电阻-电容RC时间常数。
附图说明
根据下文给出的具体实施方式且根据本公开的各种实施例的附图将更加充分地理解本公开。
图1说明根据本公开的一些实施例的包含存储器子系统的实例计算系统。
图2为根据实施例的与存储器子系统的存储器子系统控制器通信的存储器装置的框图。
图3为说明根据本公开的实施例实施的实例RC测量电路的图。
图4示意性地说明根据本公开的实施例的在存储器装置的字线的近端和远端处所测量的电压电平。
图5为根据本公开的一些实施例的估计电路的电阻-电容(RC)时间常数的实例方法的流程图。
图6示意性地说明根据本公开的实施例的用于进行读取操作的电压电平和相应字线充电时间。
图7示意性地说明根据本公开的实施例的用于进行编程操作的电压电平和相应字线充电时间。
图8为可在其中操作本公开的实施例的实例计算机系统的框图。
具体实施方式
本公开的各方面是针对估计电路的(例如,存储器装置的字线的)电阻-电容(RC)时间常数。存储器装置可为存储器子系统的一部分,所述存储器子系统可为存储装置、存储器模块或存储装置与存储器模块的混合。下文结合图1描述存储装置和存储器模块的实例。一般来说,主机系统可利用包含例如存储数据的存储器装置的一或多个组件的存储器子系统。主机系统可提供将存储在存储器子系统处的数据且可请求将从存储器子系统检索的数据。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于美光科技公司,未经美光科技公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210128838.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。