[发明专利]一种可拓展的ATE测试流调度架构及其测试方法在审
申请号: | 202210128848.7 | 申请日: | 2022-02-11 |
公开(公告)号: | CN114546614A | 公开(公告)日: | 2022-05-27 |
发明(设计)人: | 马浩然 | 申请(专利权)人: | 上海御渡半导体科技有限公司 |
主分类号: | G06F9/48 | 分类号: | G06F9/48;G01R31/28 |
代理公司: | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人: | 陶金龙;吴世华 |
地址: | 201306 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 拓展 ate 测试 调度 架构 及其 方法 | ||
一种可拓展的ATE测试流调度架构及其测试方法,该方法包括在启动测试前,定义M个测试单元(L1、L2、…LM)的参数指标信息;定义的所述测试流(WJ1、WJ2…WJN)或者所述测试项(TEST1、TEST2、…TESTM)之间的先后关系、依赖关系和逻辑关系,并形成调度策略;解析器根据调度策略将所述N个测试流描述文件(WJ1、WJ2…WJN)映射为一个双向有向图;在启动测试后,所述双向有向图动态加载到测试服务程序去执行所述测试项(TEST1、TEST2、…TESTM),并返回测试结果。因此,本发明可以大大地降低半导体测试人员的测试学习成本,进而节省了半导体测试企业的测试成本。
技术领域
本发明涉及半导体自动测试设备(Automatic Test Equipment,简称ATE)领域,尤其涉及一种可拓展的ATE测试流调度架构及其测试方法。
背景技术
自动测试设备ATE在半导体产业意指集成电路(integrated circuit,IC)自动测试机,用于检测集成电路功能之完整性,为集成电路生产制造之最后流程,以确保集成电路生产制造之品质。
目前,半导体测试领域中关于测试流的管理或处理大多都是hardcode,即是代码固化到动态库里或者以其它只读形式存在于测试机台附带的测试套件中;对于测试流的执行也都是按照传统流水线的形式单向前进执行,即在测试流执行过程中遇到某个节点的测试项结果时,只能选择继续测试或者终止测试,没有其它分支流可供调度筛选。
此外,目前对于流的调度管理也没有主从测试流的概念,从数据结构的技术角度来看,目前的测试流调度框架大多是利用的“单向链表”,将各个测试单元/测试项顺序地串联起来,没有子分支(子测试流)的概念。也就是说,测试流中不能够在跳转另一个测试流。
总而言之,目前的技术大多存在两种弊端:
①、测试流不可扩展,客户只能利用生产商提供的有限地测试套件或测试流;
②、测试流的调度方式单一,测试机台中的测试流调度器只能根据线性的测试流进行顺序调度,而无法做到灵活地筛选测试分支。
发明内容
本发明的目的在于,提供一种可拓展的ATE测试流调度架构和测试方法,其通过上位机与下位机之间一次性多指令交互,提高ATE芯片测试速度。
为实现上述目的,本发明的技术方案如下:
一种可拓展的ATE测试流调度架构,所述装置用于执行N个测试流,具有N个表示测试流(WJ1、WJ2…WJN)的测试流描述文件;其特征在于,每个所述测试流包括M个测试单元(L1、L2、…LM);每个所述测试单元(L1、L2、…LM)对应一项具体的测试项(TEST1、TEST2、…TESTM)中的之一;每个所述测试流描述文件(WJ1、WJ2…WJN)包括测试单元定义模块和测试流定义模块;其中,
所述测试单元定义模块用于定义M个测试单元(L1、L2、…LM)的参数指标信息,所述参数指标信息至少包含每个所述测试单元(L1、L2、…LM)的名字、测试单元的ID、所代表实际可执行的代码以及进行相应测试项测试所需附加参数的信息;
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