[发明专利]时间交织采样方法、装置、设备及存储介质

说明书

本申请包括一种时间交织采样方法、装置、设备及存储介质，具体涉及信号采样技术领域。所述方法包括：对各个子通道信号进行相频分析，获得各个子通道信号分别对应的相频特征；根据各个子通道信号分别对应的相频特征，计算各个子通道分别对应的实际小数间隔；根据各个子通道信号分别对应的频率特征，获取各个子通道分别对应的理想小数间隔；根据各个子通道分别对应的理想小数间隔以及各个子通道分别对应的实际小数间隔，提取各个子通道分别对应的小数时延偏差，并分别对各个子通道的模数转换芯片进行小数时延偏差补偿。上述方案使得理想时间交织型ADC可以在不同频率下都可以被补偿为理想时间间隔，从而增加了理想时间交织型ADC所适用的频率范围。

技术领域

本发明涉及信号采样技术领域，具体涉及一种时间交织采样方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

高速模拟数字转换器(Analog-to-Digital Converters，ADC)具有广泛的应用领域和前景，目前模数转换器ADC是时下一个非常热门的领域。

对于理想时间交织型ADC(TI ADC)，m个子通道ADC会等间隔采样，即相邻子通道ADC采样时间会间隔1/m个时钟周期。然而实际TI ADC会存在采样时间失配的问题，即实际ADC并非等间隔采样，即相邻子通道ADC采样时间会间隔(1/m+Δ)个时钟周期。为了消除采样时间失配，业界普遍的做法是在模拟域调整时钟线或使用可变时延器件调整，但对于超高速TI ADC模拟器件存在调整精度和不稳定的问题，适用范围有限。此时可以采用在数字域完成对信号的小数时延偏差的补偿的方法，小数间隔为所述各个子通道信号在同一时间周期内，与目标时刻的差值，在求出小数间隔的偏差后，即可以对实际的小数时延偏差进行补偿，从而使得TI ADC按照指定的小数间隔进行采样，该种方法调整精度更高且更稳定。

上述方案中，各个子通道ADC之间的小数间隔通常设置为采样间隔，对高频信号进行采样时，采样间隔不再为理想小数间隔，此时进行交织采样所得到的信号准确率低。

发明内容

本申请提供了一种时间交织采样方法、装置、设备及存储介质，增加了理想时间交织型ADC所适用的频率范围，该技术方案如下。

一方面，本申请提供了一种时间交织采样方法，所述方法包括：

获取各个子通道分别输出的各个子通道信号，并对各个子通道信号进行相频分析，获得各个子通道信号分别对应的相频特征；所述相频特征包括相位特征以及频率特征；

根据所述各个子通道信号分别对应的相频特征，计算所述各个子通道分别对应的实际小数间隔；

根据所述各个子通道信号分别对应的频率特征，获取所述各个子通道分别对应的理想小数间隔；

根据所述各个子通道分别对应的理想小数间隔以及所述各个子通道分别对应的实际小数间隔，提取所述各个子通道分别对应的小数时延偏差；

根据所述各个子通道分别对应的小数时延偏差，分别对所述各个子通道的模数转换芯片进行小数时延偏差补偿，以对所述各个子通道的模数转换芯片的时间交织采样结果进行校准。

又一方面，提供了一种时间交织采样装置，所述装置包括；

相频分析模块，用于获取各个子通道分别输出的各个子通道信号，并对各个子通道信号进行相频分析，获得各个子通道信号分别对应的相频特征；所述相频特征包括相位特征以及频率特征；

实际间隔获取模块，用于根据所述各个子通道信号分别对应的相频特征，计算所述各个子通道分别对应的实际小数间隔；

理想间隔获取模块，用于根据所述各个子通道信号分别对应的频率特征，获取所述各个子通道分别对应的理想小数间隔；

时延偏差提取模块，用于根据所述各个子通道分别对应的理想小数间隔以及所述各个子通道分别对应的实际小数间隔，提取所述各个子通道分别对应的小数时延偏差；