[发明专利]医疗设备中光探测器及其检测方法、装置及计算机可读存储介质在审
申请号: | 202210135253.4 | 申请日: | 2018-05-29 |
公开(公告)号: | CN114451905A | 公开(公告)日: | 2022-05-10 |
发明(设计)人: | 刘颖彪;雷小文 | 申请(专利权)人: | 上海联影医疗科技股份有限公司 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00 |
代理公司: | 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 | 代理人: | 汪源 |
地址: | 201807 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 医疗 设备 探测器 及其 检测 方法 装置 计算机 可读 存储 介质 | ||
1.一种医疗设备中光探测器的检测方法,光探测器包含至少一个光探测模块,每个所述光探测模块包含至少一个光探测芯片,其特征在于,所述方法包括:
采集各个光探测芯片在光源停止照射前后指定时长内的感光响应数据;
根据所述感光响应数据,判断各个光探测芯片的衰减指标参数是否满足预设要求;
当判断出任一个光探测芯片的衰减指标参数未满足预设要求时,确定该光探测芯片产生损伤;
所述根据所述感光响应数据,判断各个光探测芯片的衰减指标参数是否满足预设要求,包括:
在光源停止照射后的指定时刻,确定各个光探测芯片的感光响应电流的相对强度数据,记录为参比强度;
当所述参比强度大于或者等于预设强度时,确定该光探测芯片的衰减指标参数未满足预设要求。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述衰减指标参数包括衰减时长。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述确定该光探测芯片产生损伤之后,所述方法还包括:
响应于用户对该光探测芯片所在光探测模块的位置调整,对位置调整后的光探测器进行数据更新;或者,
响应于用户对该光探测芯片所在光探测模块的更换,对更换后的光探测器进行数据更新。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述光探测器为X射线探测器。
5.根据权利要求1至4任一所述的方法,其特征在于,所述光源是多个不同单波长的光源,或者所述光源是可调波长的光源。
6.根据权利要求1至4任一所述的方法,其特征在于,所述光源的波段覆盖所述光探测芯片的响应波段,所述光探测芯片的响应波段是使所述光探测芯片产生感光响应的光波段。
7.一种医疗设备中光探测器的检测装置,光探测器包含至少一个光探测模块,每个所述光探测模块包含至少一个光探测芯片,其特征在于,所述装置包括:
采集单元,用于采集各个光探测芯片在光源停止照射前后指定时长内的感光响应数据;
判断单元,用于根据所述感光响应数据,判断各个光探测芯片的衰减指标参数是否满足预设要求;
确定单元,当判断出任一个光探测芯片的衰减指标参数未满足预设要求时,用于确定该光探测芯片产生损伤;
所述确定单元具体用于在光源停止照射后的指定时刻,确定各个光探测芯片的感光响应电流的相对强度数据,记录为参比强度;当所述参比强度大于或者等于预设强度时,确定该光探测芯片的衰减指标参数未满足预设要求。
8.一种医疗设备中光探测器的检测装置,其特征在于,所述装置包括采集仪、处理器以及存储器;所述采集仪用于采集数据,所述存储器用于存储指令,所述指令被所述处理器执行时,导致所述处理器实现如权利要求1至6任一项所述的方法。
9.一种医疗设备中光探测器,其特征在于,所述光探测器通过权利要求1-6任一项所述的方法进行检测,所述光探测器中产生损伤的光探测芯片位于X方向的边缘位置。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,包括计算机可读指令,当计算机读取并执行所述计算机可读指令时,使得计算机执行如权利要求1-6任一项所述的方法。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海联影医疗科技股份有限公司,未经上海联影医疗科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210135253.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。