[发明专利]一种谐振结构、金属无损检测传感器、检测系统及方法在审
申请号: | 202210139257.X | 申请日: | 2022-02-15 |
公开(公告)号: | CN114486940A | 公开(公告)日: | 2022-05-13 |
发明(设计)人: | 何大平;管慧娟;杨应平;宋荣国 | 申请(专利权)人: | 武汉理工大学 |
主分类号: | G01N22/02 | 分类号: | G01N22/02;H01P7/00 |
代理公司: | 深圳市弘为力创知识产权代理事务所(普通合伙) 44751 | 代理人: | 康晓春 |
地址: | 430070 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 谐振 结构 金属 无损 检测 传感器 系统 方法 | ||
1.一种谐振结构,其特征在于,包括:
金属环,所述金属环上设有开口;
第一金属枝节和第二金属枝节,所述第一金属枝节和所述第二金属枝节分别设置在所述金属环上,且位于所述开口的两端;
部分所述第一金属枝节和所述第二金属枝节位于所述金属环内部。
2.根据权利要求1所述谐振结构,其特征在于:
所述第一金属枝节还包括位于所述金属环外部的其余部分。
3.根据权利要求1所述谐振结构,其特征在于:
所述金属环包括金属圆环或者金属椭圆环。
4.一种金属无损检测传感器,其特征在于,包括:
参考地,所述参考地包括权利要求1-3中任意一项所述的谐振结构;
介质基底,所述介质基底设置在所述参考地上;
微带线,所述微带线设置于所述介质基底上,且所述微带线沿所述介质基底的轴向方向延伸。
5.根据权利要求4所述的金属无损检测传感器,其特征在于:
所述参考地为金属参考地,所述金属参考地包括中间区域和其他区域,所述中间区域内设置有所述谐振结构。
6.一种金属无损检测系统,其特征在于,包括:
待测金属;
金属无损检测传感器,所述金属无损检测传感器设置于所述待测金属上,所述金属无损检测传感器用于检测所述待测金属的缺陷并产生谐振频率;
矢量网络分析仪,所述矢量网络分析仪用于接收所述金属无损检测传感器所产生的所述谐振频率;
所述金属无损检测传感器如权利要求4-5中任意一项所述。
7.根据权利要求6所述的金属无损检测系统,其特征在于,所述金属无损检测系统还包括:
保护涂层,所述保护涂层涂覆在所述待测金属的表面上。
8.根据权利要求6所述的金属无损检测系统,其特征在于,所述金属无损检测系统还包括:
第一SMA接头和第二SMA接头,所述第一SMA接头和所述第二SMA接头分别焊接在所述微带线的两端;
所述金属无损检测传感器通过所述第一SMA接头和所述第二SMA接头与所述矢量网络分析仪通信连接。
9.一种金属无损检测方法,其特征在于,包括如下步骤:
提供待测金属;
提供金属无损检测传感器,将所述金属无损检测传感器设置于所述待测金属上,所述金属无损检测传感器用于检测所述待测金属的缺陷并产生谐振频率;
提供矢量网络分析仪,所述矢量网络分析仪用于接收所述金属无损检测传感器所产生的所述谐振频率;
所述金属无损检测传感器如权利要求4-5中任意一项所述。
10.根据权利要求9所述的金属无损检测方法,其特征在于,所述金属无损检测方法还包括:
在所述待测金属的表面涂覆保护涂层。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉理工大学,未经武汉理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210139257.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。