[发明专利]一种电子产品综合应力沙尘试验评价方法

说明书

本发明公开一种电子产品综合应力沙尘试验评价方法，属于可靠性测试领域。首先针对待评价电子产品的实际应用环境进行调研与信息收集，并对相关数据进行分类统计分析；接着依据步骤1中的数据分析结果，进行综合应力沙尘试验严酷度选择与试验剖面设计；然后依据步骤2设计的试验条件与剖面，进行试验的具体实施与关键参数的监控；最后实施对试验样品的性能表征测试与风险等级判定。本发明基于产品的实际应用环境特点，引入了温度应力与沙尘综合应力条件，并在温湿度条件下对产品进行风险等级评估，可以更加贴切的模拟产品的应用环境，更完善为电子产品综合沙尘应力条件下的可靠性进行评价。

技术领域

本发明涉及可靠性测试技术领域，特别涉及一种电子产品综合应力沙尘试验评价方法。

背景技术

随着工业化水平的不断发展以及自然环境的不断恶化，沙尘环境对电子产品的使用寿命及可靠性影响进一步加大。沙尘的侵入可能会导致电子产品出现活动部件卡死、磨蚀活动部件、接触电阻与绝缘性能变化、热传导性能降低、噪音增大、润滑剂污染以及光学性能变化等有害影响。

沙尘侵入电子产品是由于自身重力的沉积、空气热运动的带入以及由于温度变化引起气压不一致导致的吸入等机理。一般沉积在绝缘体表面的沙尘都是不良导体；然而，跟其他环境如温湿度相结合的情况下，会溶解可溶性的粒子形成电解液，从而加速金属腐蚀的腐蚀与导电性能的变化。

因此，通过对电子产品进行综合应力沙尘试验测试，对其可靠性的提升具有非常重要的意义。

发明内容

本发明的目的在于提供一种电子产品综合应力沙尘试验评价方法，用于评价电子产品在综合沙尘应力条件下的可靠性水平。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种电子产品综合应力沙尘试验评价方法，包括：

步骤1：针对待评价电子产品的实际应用环境进行调研与信息收集，并对相关数据进行分类统计分析；

步骤2：依据步骤1中的数据分析结果，进行综合应力沙尘试验严酷度选择与试验剖面设计；

步骤3：依据步骤2设计的试验条件与剖面，进行试验的具体实施与关键参数的监控；

步骤4：实施对试验样品的性能表征测试与风险等级判定。

可选的，所述步骤1中，电子产品的实际应用环境为与试验相关的环境信息，包括高温上限温度、低温下限温度、最大湿度以及年平均湿度范围、年平均降尘量、沙尘中含有的典型成分。

可选的，所述步骤2中，综合应力沙尘试验严酷度选择与试验剖面设计包括以下子步骤：

子步骤1，根据电子产品的实际应用环境调研分析结果，选择合理的综合应力沙尘试验严酷度等级；

子步骤2，结合产品本身的设计与应用特点，进行试验剖面设计。

可选的，所述子步骤1中，综合应力沙尘试验严酷度等级由沙尘应力等级与温度应力等级组建的修正矩阵进行确定。

可选的，所述子步骤2中，试验剖面的设计中沙尘降尘浓度选定相关标准规定的降尘浓度(6±1)g/m²。

可选的，所述子步骤2中，试验剖面的设计中样品的工作状态应间断性运行，以增加沙尘通过热循环产生的吸入效应。

可选的，所述步骤3中，试验的具体实施方法参照相关标准实施。

可选的，所述步骤3中，关键参数的监控包括产品的功能、电气性能、噪音参数以及试验箱内降尘浓度监控。

可选的，所述步骤4中，试验样品的性能表征测试包含温湿度加速试验测试，测试时间不低于24H。

可选的，所述步骤4中，风险等级判定依据危害程度分为A类、B类、C类与D类四个不同等级。