[发明专利]一种基于栅下场调制的低压终端器件及其制备方法在审
申请号: | 202210148227.5 | 申请日: | 2022-02-17 |
公开(公告)号: | CN114725194A | 公开(公告)日: | 2022-07-08 |
发明(设计)人: | 马晓华;陈怡霖;朱青;张濛;郭思音;田晓坤;宓珉瀚 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H01L29/10 | 分类号: | H01L29/10;H01L29/778;H01L21/335;B82Y40/00;B82Y10/00 |
代理公司: | 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 | 代理人: | 刘长春 |
地址: | 710000 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 下场 调制 低压 终端 器件 及其 制备 方法 | ||
1.一种基于栅下场调制的低压终端器件,其特征在于,包括:
衬底层;
缓冲层,位于所述衬底层上;
沟道层,位于所述缓冲层上;
源极,位于所述沟道层的一端;
漏极,位于所述沟道层的另一端;
插入层,位于所述沟道层上,且位于所述源极和所述漏极之间;
势垒层,位于所述插入层上;其中,沿着栅宽方向,在所述势垒层、所述插入层和所述沟道层内间隔设置有若干凹槽,所述凹槽的底部位于所述沟道层内;
钝化层,位于所述势垒层上,其中,沿着所述栅宽方向,设置有贯穿所述钝化层的栅槽,且若干所述凹槽位于所述栅槽下;
栅极,位于若干所述凹槽和所述栅槽中,以及部分所述钝化层的表面;
其中,所述凹槽靠近所述源极的边长大于其靠近所述漏极的边长。
2.根据权利要求1所述的基于栅下场调制的低压终端器件,其特征在于,所述凹槽与未刻蚀区域呈周期性排列。
3.根据权利要求2所述的基于栅下场调制的低压终端器件,其特征在于,在一个周期内所述凹槽和所述未刻蚀区域的面积比为1:1。
4.根据权利要求1所述的基于栅下场调制的低压终端器件,其特征在于,所述凹槽靠近所述源极的边与其邻边的夹角的范围为70°~90°。
5.一种基于栅下场调制的低压终端器件的制备方法,其特征在于,包括:
S1:在衬底层上依次生长缓冲层、沟道层、插入层和势垒层;
S2:在所述沟道层上的一端制备源极,另一端制备漏极;
S3:在所述势垒层上生长钝化层;
S4:沿栅宽方向,刻蚀位于所述源极和所述漏极之间的所述钝化层,形成贯穿所述钝化层的栅槽;
S5:刻蚀位于所述栅槽下方的所述势垒层、所述插入层和所述沟道层,形成沿所述栅宽方向间隔排列的若干凹槽;
S6:在若干所述凹槽中、所述栅槽中和部分所述钝化层上沉积栅金属,形成栅极;
S7:制备所述源极和所述漏极之间的金属互联层;
其中,所述凹槽的底部位于所述沟道层内,所述凹槽靠近所述源极的边长大于其靠近所述漏极的边长。
6.根据权利要求5所述的基于栅下场调制的低压终端器件的制备方法,其特征在于,在所述S5中,所述凹槽与未刻蚀区域呈周期性排列,且在一个周期内所述凹槽和所述未刻蚀区域面积比为1:1。
7.根据权利要求5所述的基于栅下场调制的低压终端器件的制备方法,其特征在于,在所述S5中,所述凹槽靠近所述源极的边与其邻边的夹角的范围为70°~90°。
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