[发明专利]一种基于栅下场调制的低压终端器件及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202210148227.5 申请日: 2022-02-17
公开(公告)号: CN114725194A 公开(公告)日: 2022-07-08
发明(设计)人: 马晓华;陈怡霖;朱青;张濛;郭思音;田晓坤;宓珉瀚 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H01L29/10 分类号: H01L29/10;H01L29/778;H01L21/335;B82Y40/00;B82Y10/00
代理公司: 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 代理人: 刘长春
地址: 710000 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 下场 调制 低压 终端 器件 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种基于栅下场调制的低压终端器件,其特征在于,包括:

衬底层;

缓冲层,位于所述衬底层上;

沟道层,位于所述缓冲层上;

源极,位于所述沟道层的一端;

漏极,位于所述沟道层的另一端;

插入层,位于所述沟道层上,且位于所述源极和所述漏极之间;

势垒层,位于所述插入层上;其中,沿着栅宽方向,在所述势垒层、所述插入层和所述沟道层内间隔设置有若干凹槽,所述凹槽的底部位于所述沟道层内;

钝化层,位于所述势垒层上,其中,沿着所述栅宽方向,设置有贯穿所述钝化层的栅槽,且若干所述凹槽位于所述栅槽下;

栅极,位于若干所述凹槽和所述栅槽中,以及部分所述钝化层的表面;

其中,所述凹槽靠近所述源极的边长大于其靠近所述漏极的边长。

2.根据权利要求1所述的基于栅下场调制的低压终端器件,其特征在于,所述凹槽与未刻蚀区域呈周期性排列。

3.根据权利要求2所述的基于栅下场调制的低压终端器件,其特征在于,在一个周期内所述凹槽和所述未刻蚀区域的面积比为1:1。

4.根据权利要求1所述的基于栅下场调制的低压终端器件,其特征在于,所述凹槽靠近所述源极的边与其邻边的夹角的范围为70°~90°。

5.一种基于栅下场调制的低压终端器件的制备方法,其特征在于,包括:

S1:在衬底层上依次生长缓冲层、沟道层、插入层和势垒层;

S2:在所述沟道层上的一端制备源极,另一端制备漏极;

S3:在所述势垒层上生长钝化层;

S4:沿栅宽方向,刻蚀位于所述源极和所述漏极之间的所述钝化层,形成贯穿所述钝化层的栅槽;

S5:刻蚀位于所述栅槽下方的所述势垒层、所述插入层和所述沟道层,形成沿所述栅宽方向间隔排列的若干凹槽;

S6:在若干所述凹槽中、所述栅槽中和部分所述钝化层上沉积栅金属,形成栅极;

S7:制备所述源极和所述漏极之间的金属互联层;

其中,所述凹槽的底部位于所述沟道层内,所述凹槽靠近所述源极的边长大于其靠近所述漏极的边长。

6.根据权利要求5所述的基于栅下场调制的低压终端器件的制备方法,其特征在于,在所述S5中,所述凹槽与未刻蚀区域呈周期性排列,且在一个周期内所述凹槽和所述未刻蚀区域面积比为1:1。

7.根据权利要求5所述的基于栅下场调制的低压终端器件的制备方法,其特征在于,在所述S5中,所述凹槽靠近所述源极的边与其邻边的夹角的范围为70°~90°。

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