[发明专利]一种带有刻蚀保护层的金刚石基氮化镓器件的制备方法在审
申请号: | 202210151050.4 | 申请日: | 2022-02-14 |
公开(公告)号: | CN114551239A | 公开(公告)日: | 2022-05-27 |
发明(设计)人: | 林长志;陈兴;王东;吴勇;黄永;陈瑶;李彦佐;邱慧嫣;谢雨峰 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学芜湖研究院 |
主分类号: | H01L21/335 | 分类号: | H01L21/335;H01L21/56;H01L23/31;H01L23/373;H01L29/778 |
代理公司: | 芜湖思诚知识产权代理有限公司 34138 | 代理人: | 房文亮 |
地址: | 241000 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 带有 刻蚀 保护层 金刚石 氮化 器件 制备 方法 | ||
1.一种带有刻蚀保护层的金刚石基氮化镓器件的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)在第一衬底(102)上生长AlN成核层,厚度为1nm-1um;
(2)在氮化铝成核层(103)上生长氮化镓缓冲层,厚度为10-100um;
(3)在氮化镓缓冲层(104)上生长临时的保护层,对氮化镓材料形成保护,完成氮化镓材料的的制备;
(4)在氮化镓材料的第一衬底背面抛光减薄处理,保留1um-100um;
(5)采用icp刻蚀方法对减薄的衬底背面刻蚀若干凹槽,凹槽深度为0.1um-10um,凹槽的宽度为0.5-1um;
(6)在凹槽衬底上生长多晶金刚石,完成金刚石衬底(101)氮化镓材料的制备,具体生长条件为:腔体压强100Torr,甲烷流量24sccm,氢气流量376sccm,多晶金刚石生长厚度为1um-10um;
(7)去除氮化镓材料的临时的保护层(111),在氮化镓材料上生长氮化镓沟道层(105),厚度为0.1um-1um;
(8)在氮化镓沟道层生长铝镓氮势垒层(106),厚度为10-100nm;
(9)采用等离子增强化学沉积方法在上述AlGaN/GaN异质结材料表面沉积一层SiNx膜层作为介质层(110),厚度为200nm;
(10)将上述材料进行有机清洗,清洗结束后采用光刻和刻蚀技术将AlGaN/GaN异质结两端的薄膜介质层祛除掉,其余地方保留光刻胶涂层,形成源电极(108)、漏电极(107)凹槽;
(11)采用电子束蒸镀技术进行金属沉积,依次沉积钛、铝、镍和金四种金属,四层金属层的厚度分别为20nm、150nm、30nm和50nm,蒸镀结束后采用金属剥离设备将光刻胶上面的多层金属祛除掉,形成只有源极和漏极存在多层金属的图案;
(12)将上述材料进行有机清洗,清洗结束后对上述材料进行退火处理,退火温度为800℃,退火时间为30s;
(13)将上述材料进行有机清洗,采用光刻和刻蚀技术形成栅电极(109)凹槽,采用电子束蒸镀技术进行金属沉积,依次沉积镍和金两种金属,厚度分别30nm、200nm,蒸镀结束后采用金属剥离设备将光刻胶上面的多层金属祛除掉,完成栅极电极制作;
(14)材料用ALD在器件上面淀积介质层(110),厚度为100nm-900nm。
2.根据权利要求1所述的一种带有刻蚀保护层的金刚石基氮化镓器件的制备方法,其特征在于,所述第一衬底采用Si材料。
3.根据权利要求1所述的一种带有刻蚀保护层的金刚石基氮化镓器件的制备方法,其特征在于,所述步骤(4)中凹槽深度为0.1-10um,凹槽的宽度为0.5-1um。
4.根据权利要求1所述的一种基带有刻蚀保护层的金刚石基氮化镓器件的制备方法,其特征在于,所述步骤(12)中退火温度为800℃,退火时间为30s。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造