[发明专利]基于大数据的温度控制数据的采集、挖掘和分析系统有效
申请号: | 202210151395.X | 申请日: | 2022-02-17 |
公开(公告)号: | CN114527810B | 公开(公告)日: | 2022-12-27 |
发明(设计)人: | 常兵;薛桢一;吴健辉;张国俊 | 申请(专利权)人: | 江苏锐天智能科技股份有限公司 |
主分类号: | G05D23/20 | 分类号: | G05D23/20;G06F17/18;G06F16/2458 |
代理公司: | 南京明杰知识产权代理事务所(普通合伙) 32464 | 代理人: | 张文杰 |
地址: | 212016 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 数据 温度 控制 采集 挖掘 分析 系统 | ||
本发明公开了基于大数据的温度控制数据的采集、挖掘和分析系统,涉及大数据温度控制技术领域;分析系统包括信息采集模块、信息管理模块、数据分析模块和优化模块;所述信息管理模块用于采集老化房内的温度信息,对温度信息进行管理;信息采集模块用于获取老化房内的温度信息,并对温度信息进行分析处理;数据分析模块用于在第一温度下,分析老化房内所检测目标处于第二温度时被测试的概率;优化模块用于根据老化房的参数信息,调整并优化老化房内的装置位置;根据本发明,减少了设置在老化门内温度传感器的数量,根据稳定时间段固定数量的电子器件上传测试,提高了检测效率,也避免了因过多数量的电子器件同时被测试,导致测试效率降低。
技术领域
本发明涉及大数据温度控制技术领域,具体为基于大数据的温度控制数据的采集、挖掘和分析系统。
背景技术
随着时代的进步和科学技术的发展,为了保证电子器件出厂之前,能够维持电子器件的质量,防止电子器件使用过一段时间后,返厂加工维修的电子器件的数量增加,通常会将电子器件放置在老化房内,进行恶略环境的测试,从而使得电子器件在加工过程中的缺陷和问题暴露出来;
在论文“老化房恒温PLC控制系统设计”中,其中在老化房内设计了16路温度传感器进而对环境的温度进行测试,虽然上述论文中设计了较多数量的温度传感器进行测温,但是依然不能够保证老化房内的温度是均匀的,同时上述论文中浪费了较多传感器,浪费了资源却依然没有达到相应的效果;因此,需要对上述问题进行改善。
发明内容
本发明的目的在于提供基于大数据的温度控制数据的采集、挖掘和分析系统,以解决上述背景技术中提出的问题。
为了解决上述技术问题,本发明提供如下技术方案:基于大数据的温度控制数据的采集、挖掘和分析系统,所述分析系统包括信息采集模块、信息管理模块、数据分析模块和优化模块;
所述信息管理模块用于采集老化房内的温度信息,对温度信息进行管理;从而能够及时管理上位机与下位机之间的数据信息,保证信息能够稳定传输;
所述信息采集模块用于获取老化房内的温度信息,并对温度信息进行分析处理;
所述数据分析模块用于在第一温度下,分析老化房内所检测目标处于第二温度时被测试的概率;从而提高目标被测试的效率,加快工作进程;
所述优化模块用于根据老化房的参数信息,调整并优化老化房内的装置位置;
所述信息管理模块与信息采集模块相连接;所述数据分析模块与优化模块和信息采集模块相连接。
进一步的,所述信息采集模块包括第一温度信息获取单元、第二温度信息获取单元、温度曲线建立单元、数据分析单元;
所述第一温度信息获取单元用于获取设置在老化房内传感器所检测到的第一温度信息;
所述第二温度信息获取单元用于获取放置在老化房内电子器件的第二温度信息;
所述温度曲线建立单元用于根据第一温度信息和第二温度信息分别建立温度曲线;
所述数据分析单元用于分析老化房内电子器件的第二温度信息达到第一温度信息的时间段;
所述温度曲线建立单元的输出端与第一温度信息获取单元和第二温度信息获取单元的输入端相连接,所述数据分析单元的输出端与温度曲线建立单元的输入端相连接。
进一步的,在所述数据分析单元中,获取根据温度曲线单元输出的两个温度曲线,得到第一温度曲线和第二温度曲线的起始值和终点值信息,根据起始值和终点值信息建立向量,得到向量和向量对起始值和终点值分别作垂线,得到终点值与初始值在水平方向形成的夹角β;
若cosβ=1,则表示第一温度和第二温度完全相同,老化房内电子器件的第二温度与第一温度同步;
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