[发明专利]一种CBIST成像方法及成像系统

权利要求书

1.一种CBIST成像方法，其特征在于，包括以下步骤：

Step1,EIT成像：EIT成像模块读取存储模块的数据生成EIT二值化图像；

Step2,在EIT二值化图像上初步判断癌变区域并且得到每个癌变区域的中心坐标；

根据Step1所得的二值图像能够获得每个癌变区域内各节点坐标(x_i，y_i)和该节点坐标对应的电导率值σ_i，则能够获得每个癌变区域的中心坐标；

对于任意第j个癌变区域而言，其中心坐标(X_j,Y_j)为：

其中，n表示第j个癌变区域的节点总数，其能够从Step1所得的二值图像上得知；

Step3,对于每个癌变区域均计算其对应的频率-电阻抗值实部-电阻抗值虚部矩阵；

Step4，根据每个癌变区域的频率-电阻抗值实部-电阻抗值虚部矩阵，提取每个癌变区域对应的BIS电气特征；

Step5，根据Step4的结果，对每个癌变区域进行种类分析；

Step6，成像多彩的电阻抗谱成像图。

2.根据权利要求1所述的一种CBIST成像方法，其特征在于，Step3，包括：对于任意第j个癌变区域，计算该癌变区域对应的频率-电阻抗值实部-电阻抗值虚部矩阵包括：

Step3-1：根据第j个癌变区域中心坐标(X_j,Y_j)与各电极之间的欧氏距离，确定欧氏距离最近的两个电极为第j个癌变区域的阻抗谱激励-测量电极；

Step3-2,对于任意第j个癌变区域通过Step3-1中选定激励-测量电极使用阻抗分析仪在不同频率下(f₁，f₂，...，f_i，…，f_q)下采集该癌变区域的阻抗幅值和相位进而获得：频率-阻抗幅值-相位矩阵，该矩阵可表达为：

其中，Z_i为与f_i对应的阻抗幅值，为与f_i对应的相位角；

Step3-3,计算该癌变区域对应的频率-电阻抗值实部-电阻抗值虚部矩阵，采用下述矩阵表示：

其中：

与频率f_i对应的电阻抗值实部

与频率f_i对应的电阻抗值虚部

3.根据权利要求2所述的一种CBIST成像方法，其特征在于，Step4还包括：BIS电气特征为R_C、C_C；

Step4-1:根据Step3-2的频率-阻抗幅值-相位矩阵，计算数据集：

(ω₁，ω₂………ω_q)、(Z”'₁，Z”'₂………Z”'_q)

对于任意第i个阻抗复值Z”'_i、第i个角频率ω_i，求解方式如下：

j表示虚部单位；

Step4-2,利用数据集：(ω₁，ω₂………ω_q)、(Z”'₁，Z”'₂………Z”'_q)以及下式，通过数据拟合能够求取R_C、C_C：

其中:R_L1、C_L1、R_L2、C_L2、R_O和C_O代表正常肺部电气特征能够通过健康肺模型获得，均为已知值。