[发明专利]单元测试方法和装置

说明书

本申请公开了一种单元测试方法和装置，该方法包括：从指定目录下获取预先配置的元数据文件，元数据文件中包括对待测单元进行单元测试所需的测试用例和mock数据；对元数据文件进行解析，得到元数据文件中包括的测试用例和mock数据；根据测试用例、mock数据以及待测单元的测试方法生成单元测试计划；执行单元测试计划，得到单元测试计划的执行结果。本申请实施例在进行单元测试时可以无需每次编写测试用例，也无需编写mock代码，极大降低了单元测试的编写难度，提高了单元测试的测试效率。此外，通过元数据文件统一管理和维护单元测试所需的测试用例和mock数据，还可以保证整个单元测试的稳定性、可维护性和可持续化。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，尤其涉及一种单元测试方法和装置。

背景技术

单元测试一般是指对软件中的最小可测试单元进行检查和验证，以通过确保软件最小粒度的正确性来保证其整体的正确性。目前，在进行单元测试时，可以依赖单元测试框架实现，具体地，可以在既定的框架规则内编写测试用例，然后基于测试用例进行单元测试。

然而，在实际进行单元测试时，需要每次手动编写测试用例，且每个测试用例都是单独的测试方法，分散于各个单元测试类中，不便管理，此外，当待测单元内部依赖其他方法时，需要对被依赖的方法编写模拟(mock)代码，花费的时间较长，且不易实现。

发明内容

本申请实施例提供一种单元测试方法和装置，用于解决目前基于单元测试框架进行单元测试时，测试用例代码编写复杂，不易实现mock功能的问题。

为解决上述技术问题，本申请实施例是这样实现的：

第一方面，提出一种单元测试方法，包括：

从指定目录下获取预先配置的元数据文件，所述元数据文件中包括对待测单元进行单元测试所需的测试用例和mock数据；

对所述元数据文件进行解析，得到所述元数据文件中包括的测试用例和mock数据；

根据所述测试用例、所述mock数据以及所述待测单元的测试方法生成单元测试计划；

执行所述单元测试计划，得到所述单元测试计划的执行结果。

第二方面，提出一种单元测试装置，包括：

获取模块，从指定目录下获取预先配置的元数据文件，所述元数据文件中包括对待测单元进行单元测试所需的测试用例和mock数据；

解析模块，对所述元数据文件进行解析，得到所述元数据文件中包括的测试用例和mock数据；

测试计划生成模块，根据所述测试用例、所述mock数据以及所述待测单元的测试方法生成单元测试计划；

测试模块，执行所述单元测试计划，得到所述单元测试计划的执行结果。

第三方面，本申请提供一种电子设备，包括：

处理器；

用于存储所述处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为执行所述指令，以实现如第一方面所述的方法。

第四方面，本申请提供一种计算机可读存储介质，当所述存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时，使得电子设备能够执行如第一方面所述的方法。

本申请实施例采用的上述至少一个技术方案能够达到以下有益效果：