[发明专利]一种触摸屏测试控制装置及使用方法在审

专利信息
申请号: 202210163579.8 申请日: 2022-02-22
公开(公告)号: CN114546742A 公开(公告)日: 2022-05-27
发明(设计)人: 郭晓璋;王超 申请(专利权)人: 合肥创发微电子有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 昆明合众智信知识产权事务所 53113 代理人: 朱世新
地址: 230088 安徽省合肥市高新区创新大*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 触摸屏 测试 控制 装置 使用方法
【说明书】:

发明提供一种触摸屏测试控制装置及使用方法,包括外部组件、连接组件、测试控制装置和上位机,本发明当待测触摸屏未接入测试控制装置时,测试控制装置一直处于断电状态,当待测部件接入测试控制装置时,外部组件通过GPIO端口通知测试控制装置,触摸屏测试软件控制测试控制装置输出控制电压以对待测触摸屏供电,而在测试完成后恢复至断电状态,避免在测试控制装置的输出存在电压时,将待测触摸屏接入或移除测试控制装置过程中在待测触摸屏内部产生瞬间脉冲,进而提升待测触摸屏的良品率。

技术领域

本发明涉及触摸屏检测技术领域,具体为一种触摸屏测试控制装置及使用方法。

背景技术

在触摸屏生产过程中,工厂常采用热插拔的方式将触摸屏成品模组等待测部件接入测试装置进行测试,在测试装置处于上电状态时,测试装置中的微控制单元通过反复地进行读操作以检测待测试触摸屏是否接入测试装置,或通过测试装置中的微控制单元输出低电压以检测触摸屏是否接入测试装置,当测试装置中的微控制单元检测到触摸屏已接入测试装置时,再由测试装置中的微控制单元进行供电并启动测试流程,从而开始测试,在测试流程结束后,再由测试装置中的微控制单元通过反复地进行读操作或输出低电压检测触摸屏是否已拔出测试装置,待检测到已测试的触摸屏拔出测试装置后,再重复上述操作,不断测试待测部件。

采用热插拔的方式,在微控制单元通过反复地进行读操作或输出低电压检测触摸屏安装状态时,都会带电,测试装置在带电的情况下将待测部件接入测试装置,或将待测部件从测试装置中拔出的过程中,会在待测部件内部产生瞬间脉冲,瞬间脉冲很可能会击穿元器件,从而对待测的触摸屏造成不可逆的损坏,进而影响到待测触摸屏的良品率。

发明内容

本发明的目的在于提供一种触摸屏测试控制装置及使用方法,以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:

一种触摸屏测试控制装置,包括:

外部组件,所述外部组件和测试控制装置电性连接,用于检测触摸屏是否接入测试控制装置,并在触摸屏接入后向测试控制装置发出已连接信号;

连接组件,所述连接组件和测试控制装置电性连接,用于和触摸屏连接,从而将触摸屏接入测试控制装置;

测试控制装置,所述测试控制装置和上位机电性连接,用于在收到已连接信号后在上位机的控制下输出控制电压以对待测触摸屏供电,并在测试完成后在上位机的控制下断开控制电压;

上位机,所述上位机内部安装有触摸屏测试软件,用于根据外部组件的连接对测试控制装置进行控制和配置,并对待检测的触摸屏进行测试。

优选的,所述测试控制装置基于微控制器构成,所述测试控制装置通过两个GPIO口和外部组件电性连接。

优选的,所述外部组件包括电源端、常开的行程开关、上拉电阻、常开的闭锁继电器、保护二极管和NPN型的导通三极管,所述电源端正极、行程开关、上拉电阻和测试控制装置的GPIO1口依次串联,所述闭锁继电器的常开触点与行程开关并联,所述保护二极管和闭锁继电器的线圈并联,所述保护二极管的阴极和电源端正极电性连接,阳极和导通三极管的集电极电性连接,所述导通三极管发射级接地,基极和测试控制装置的GPIO2口电性连接,所述行程开关用于检测触摸屏是否接入测试控制装置。

优选的,所述外部组件还包括有抗干扰电阻、抗干扰电容、第一分压电阻和第二分压电阻,所述抗干扰电阻和抗干扰电容串联后,整体并联在行程开关两端,所述第一分压电阻串联在GPIO2口和导通三极管的基极之间,所述第二分压电阻一端接地,一端与行程开关和上拉电阻的连接节点电性连接。

优选的,所述连接组件为排针座。

优选的,所述行程开关设置在连接组件下方,用于在测试触摸屏安装在连接组件上时同时触动行程开关。

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