[发明专利]一种温盐深测量仪测试筛选装置

说明书

本发明公开了一种温盐深测量仪测试筛选装置，涉及仪器测试技术领域，所述温盐深测量仪测试筛选装置包括：上位机、测量电路测试筛选装置和传感器测试筛选装置，当需要对温盐深测量仪中的测量电路进行测试时，上位机分别与测量电路测试筛选装置和被测测量电路连接，测量电路测试筛选装置与被测测量电路连接，当需要对温盐深测量仪中的传感器进行测试时，上位机分别与传感器测试筛选装置和温盐深测量仪中的标准测量电路连接，测量电路测试筛选装置与至少一个被测传感器连接，测量电路测试筛选装置的输出端与标准测量电路连接。本发明能单独对温盐深测量仪中的测量电路和传感器开展测试和筛选，从而缩短测试周期，降低试错成本，提高生产效率。

技术领域

本发明涉及仪器测试技术领域，特别是涉及一种温盐深测量仪测试筛选装置。

背景技术

温盐深测量仪（Conductivity Temperature Depth profiler，CTD）用来测定海水的温度、电导率和压力，继而得到不同深度处的海水温度和盐度信息，海水温度、盐度的大小和变化是制约和影响水文、气象、化学和生物等要素分布、演化的重要因素，作为海洋调查最基础的仪器，CTD的测量精度指标至关重要。

CTD的温度、电导率和压力技术指标分别需达到0.002℃、0.003mS/cm和0.05%F.S.的精度，目前，对该指标的评测只能依靠CTD整机实验进行，CTD整机包括测量电路和与测量电路连接的传感器，一次实验要耗费一至两天时间，整个实验周期长达数周或数月，费时、费力且增加了生产成本。特别是当CTD整机温度、电导率和压力测量性能超出技术指标时，常常难以确认到底是测量电路出了问题还是传感器出了问题，也无法排除是否是两者共同作用的结果，只能由生产实验人员根据经验试探性的更换排查，然后重新做整机实验，造成CTD出厂测试周期过长，成本增加，产能降低。

发明内容

基于此，本发明实施例提供一种温盐深测量仪测试筛选装置，单独对CTD中的测量电路和传感器开展测试和筛选，从而缩短测试周期，降低试错成本，提高生产效率。

为实现上述目的，本发明提供了如下方案：

一种温盐深测量仪测试筛选装置，包括：上位机、测量电路测试筛选装置和传感器测试筛选装置；

当需要对温盐深测量仪中的测量电路进行测试时，所述上位机分别与所述测量电路测试筛选装置的控制端和被测测量电路的输出端连接，所述测量电路测试筛选装置的输出端与所述被测测量电路的输入端连接，所述上位机用于控制所述测量电路测试筛选装置输出标准电阻值、获取所述被测测量电路输出的测量值以及将所述测量值与标准电阻值进行比较，得到所述被测测量电路的测试结果；

当需要对温盐深测量仪中的传感器进行测试时，所述上位机分别与所述传感器测试筛选装置的控制端和温盐深测量仪中的标准测量电路的输出端连接，所述测量电路测试筛选装置的被测接入端与至少一个被测传感器连接，所述测量电路测试筛选装置的输出端与所述标准测量电路的输入端连接，所述上位机用于控制所述被测传感器工作、获取所述标准测量电路输出的测量值以及将所述测量值与标准值进行比较，得到所述被测传感器的测试结果。

可选的，所述测量电路测试筛选装置，包括：电阻测量电路；所述电阻测量电路的一端作为第一接线端，所述电阻测量电路的另一端作为第二接线端；所述被测测量电路的输入端分别与所述第一接线端和所述第二接线端连接；

所述电阻测量电路包括至少一个电阻测量支路；当所述电阻测量支路为多个时，多个所述电阻测量支路并联；所述电阻测量支路包括串联的开关和标准电阻；所述上位机与各所述电阻测量支路中的所述开关连接；所述上位机用于控制所述电阻测量电路中各所述开关的通断。

可选的，当需要对所述被测测量电路中的温度测量电路进行测试时，所述被测测量电路中温度测量电路的输入端分别与所述第一接线端和所述第二接线端连接；