[发明专利]题目类别检测方法、训练方法、装置、电子设备和介质在审
申请号: | 202210165827.2 | 申请日: | 2022-02-23 |
公开(公告)号: | CN114241043A | 公开(公告)日: | 2022-03-25 |
发明(设计)人: | 赵翔 | 申请(专利权)人: | 北京世纪好未来教育科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/70 | 分类号: | G06T7/70;G06V10/774;G06V10/74;G06V10/764;G06N3/04;G06V10/82;G06V30/413;G06V30/418 |
代理公司: | 北京开阳星知识产权代理有限公司 11710 | 代理人: | 祝乐芳 |
地址: | 100089 北京市海淀区中*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 题目 类别 检测 方法 训练 装置 电子设备 介质 | ||
1.一种题目类别检测方法,其特征在于,所述方法包括:
获取批改题目图像,所述批改题目图像中包括多个批改题目,以及多个批改信息;
确定所述多个批改题目在所述批改题目图像中的多个第一坐标位置,以及确定目标批改信息在所述批改题目图像中的第二坐标位置,所述目标批改信息为所述多个批改信息中目标批改类别的批改信息;
计算所述第二坐标位置与所述多个第一坐标位置匹配的多个概率值;
从所述多个第一坐标位置中,确定最大概率值对应的目标坐标位置,所述最大概率值为所述多个概率值中的最大值;
确定所述目标坐标位置对应的目标批改题目为所述目标批改类别;
其中,所述目标批改类别包括:正确题目以及错误题目。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定所述多个批改题目在所述批改题目图像中的多个第一坐标位置,包括:
将所述批改题目图像输入题目位置检测模型;
获取所述题目位置检测模型输出的,多个批改题目对应的所述多个第一坐标位置。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定目标批改信息在所述批改题目图像中的第二坐标位置,包括:
将所述批改题目图像输入批改位置检测模型;
以使得所述批改位置检测模型,从所述多个批改信息中确定目标批改信息,以及确定所述目标批改信息在所述批改题目图像中的所述第二坐标位置,所述目标批改信息为所述目标批改类别的批改信息。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述计算所述第二坐标位置与所述多个第一坐标位置匹配的多个概率值,包括:
根据所述批改题目图像获取特征映射图,所述特征映射图用于指示所述批改题目图像对应的全局特征信息;
根据所述多个第一坐标位置和所述特征映射图计算得到多个第一特征向量,所述第一特征向量用于指示所述批改题目对应的第一节点特征信息;
根据所述第二坐标位置和所述特征映射图计算得到第二特征向量,所述第二特征向量用于指示所述批改信息对应的第二节点特征信息;
将所述多个第一特征向量,以及所述第二特征向量输入至目标批改匹配模型;
获取所述目标批改匹配模型输出的所述多个概率值。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述从所述多个第一坐标位置中,确定最大概率值对应的目标坐标位置,包括:
从所述多个概率值中确定大于预设概率值的至少一个概率值;
从所述多个第一坐标位置中,确定最大概率值对应的目标坐标位置,其中,所述最大概率值具体为所述至少一个概率值中的最大值。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定所述目标坐标位置对应的目标批改题目为所述目标批改类别之后,还包括:
根据所述目标坐标位置,从所述批改题目图像中识别所述目标批改题目的题目内容;
确定与所述题目内容匹配的相关信息,所述相关信息包括以下至少一项:
答案信息、知识点信息、相关教材信息;
将所述相关信息发送至目标可穿戴设备,所述目标可穿戴设备为所述批改题目图像所关联用户注册的可穿戴设备。
7.一种题目位置检测模型训练方法,其特征在于,所述方法包括:
获取第一训练样本集,所述第一训练样本集包括至少一个第一样本,每个所述第一样本包括批改题目图像,以及所述批改题目图像中每个批改题目对应的第三坐标位置;
将所述第一训练样本集输入初始题目位置检测模型中,对所述初始题目位置检测模型进行训练,得到题目位置检测模型。
8.一种批改位置检测模型训练方法,其特征在于,所述方法包括:
获取第二训练样本集,所述第二训练样本集包括至少一个第二样本,每个所述第二样本包括批改题目图像,以及所述批改题目图像中每个目标批改信息对应的第四坐标位置;
将所述第二训练样本集输入初始批改位置检测模型中,对所述初始批改位置检测模型进行训练,得到批改位置检测模型。
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