[发明专利]雷达高度的测量方法和雷达高度的测量装置在审
申请号: | 202210169251.7 | 申请日: | 2022-02-23 |
公开(公告)号: | CN114594471A | 公开(公告)日: | 2022-06-07 |
发明(设计)人: | 洪天晟;李春来;苏彦;张宗煜;刘晨迪;王瑞刚;戴舜;刘书宁;杜维 | 申请(专利权)人: | 中国科学院国家天文台 |
主分类号: | G01S13/88 | 分类号: | G01S13/88;G01S7/40 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 樊晓 |
地址: | 100012 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 雷达 高度 测量方法 测量 装置 | ||
本公开提供了一种雷达高度的测量方法和雷达高度的测量装置。该方法包括:对从雷达获取的探测数据进行电离层校正,得到校正系数和与校正系数对应的目标脉压系数,其中,探测数据是雷达对星体表面进行探测所获得的;根据目标脉压系数,对探测数据进行脉冲压缩,得到压缩数据,其中,压缩数据的分辨率满足预设分辨率要求;基于预设挑选规则,从压缩数据中找出压缩数据中目标回波位置;根据目标回波位置对应的时延、探测数据的采样率和雷达接收探测数据的开窗高度,确定雷达的高度信息。
技术领域
本公开涉及计算机技术领域,更具体地,涉及一种雷达高度的测量方法、雷达高度的测量装置、设备、介质和计算机程序产品。
背景技术
雷达探测具有方便、快捷、高分辨率等特点,从而被广泛地应用于考古、建筑行业、地质勘探、天文探测等领域。由于雷达的发射信号具有全方位性,其不仅能接收到雷达正下方的反射信号,对于偏离正下方的特定范围内,仍然能接收到反射信号,因此可以应用于成像领域。
在实现本公开构思的过程中,发明人发现相关技术中至少存在如下问题:雷达高度的测量准确性较差,导致雷达生成的图像的质量较差。
发明内容
有鉴于此,本公开实施例提供了一种雷达高度的测量方法、雷达高度的测量装置、设备、介质和计算机程序产品。
本公开实施例的一个方面提供了一种雷达高度的测量方法,包括:
对从上述雷达获取的探测数据进行电离层校正,得到校正系数和与上述校正系数对应的目标脉压系数,其中,上述探测数据是上述雷达对星体表面进行探测所获得的;
根据上述目标脉压系数,对上述探测数据进行脉冲压缩,得到压缩数据,其中,上述压缩数据的分辨率满足预设分辨率要求;
基于预设挑选规则,从上述压缩数据中找出上述压缩数据中目标回波位置;
根据上述目标回波位置对应的时延、上述探测数据的采样率和上述雷达接收上述探测数据的开窗高度,确定上述雷达的高度信息。
根据本公开的实施例,雷达高度的测量方法还包括:
根据上述高度信息和从上述雷达获取的雷达数据包,确定上述雷达的星下点在上述星体上的目标位置信息和高程信息,其中,上述雷达数据包包括上述雷达在星体惯性坐标系中的初始位置信息和上述雷达的多个姿态角。
根据本公开的实施例,上述根据上述高度信息和从上述雷达获取的雷达数据包,确定上述雷达的星下点在星体上的位置信息和高程信息,包括:
根据上述姿态角确定上述雷达的指向信息;
根据上述指向信息、矢量长度、初始位置信息和上述星体的经纬度坐标系,确定上述星下点和上述星下点的上述目标位置信息,其中,上述矢量长度表征上述高度信息;
根据从上述雷达获取的上述雷达与上述星体中心的距离信息和上述高度信息,确定上述星下点的上述高程信息。
根据本公开的实施例,上述对从上述雷达获取的探测数据进行电离层校正,得到校正系数和与上述校正系数对应的目标脉压系数,包括:
根据初始脉压系数和多个相位估计误差模型,得到多个上述目标脉压系数的估计值;目标脉压系数估计值指带有电离层相位估计误差的脉压系数,校正系数指能校正电离层相位误差的相位补偿项。
根据每个上述目标脉压系数估计值和上述探测数据,确定与上述探测数据对应的上述目标脉压系数。目标脉压系数指带有准确电离层误差估计值校正量的脉压系数。
根据本公开的实施例,相位估计误差模型包括如下公式:
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