[发明专利]一种自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本申请实施例公开了一种自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质，涉及计算机技术领域。其中，该方法包括：对待测部件的测试内容和测试内容对应的测试用例进行分析，得到可能会导致测试内容失败的环境因素；确定环境因素对应的至少一个参数变量，将至少一个参数变量添加至测试用例中，得到目标测试用例；运行目标测试用例得到待测部件的测试结果；根据测试结果确定导致测试内容的测试失败原因。本申请实施例提供的技术方案，可以避免开发人员通过对待测部件的缺陷进行复现来定位测试失败原因，可以快速定位测试内容的测试失败原因，进而可以提高开发效率。

技术领域

本申请实施例涉及计算机技术领域，尤其涉及一种自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

目前汽车电控单元的开发流程为先由开发人员进行开发，开发完成后测试人员进行测试并将测试结果反馈开发人员，开发人员再进行修改，以此流程迭代进行。现有技术中的测试方法为自动化测试，测试人员在交给开发人员的测试报告中只有测试内容为通过或不通过。对于不通过的测试内容，开发人员往往需要再根据测试用例对问题或缺陷进行复现；在复现过程中进一步定位测试失败原因，定位到测试失败原因之后开发人员才能着手修改问题或缺陷。而如果开发人员对测试用例不够了解，那对测试失败原因的定位将花费开发人员很大的劳动量。因此，现有技术中的测试方法无法定位测试内容的测试失败原因，进而导致开发效率慢。

发明内容

本申请实施例提供了一种自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质，可以实现快速定位测试内容的测试失败原因，进而可以提高开发效率。

第一方面，本申请实施例提供了一种自动化测试方法，该方法包括：

对待测部件的测试内容和所述测试内容对应的测试用例进行分析，得到可能会导致所述测试内容失败的环境因素；

确定所述环境因素对应的至少一个参数变量，将所述至少一个参数变量添加至所述测试用例中，得到目标测试用例；

运行所述目标测试用例得到所述待测部件的测试结果；

根据所述测试结果确定导致所述测试内容的测试失败原因。

第二方面，本申请实施例提供了一种自动化测试装置，该装置包括：

环境因素确定模块，用于对待测部件的测试内容和所述测试内容对应的测试用例进行分析，得到可能会导致所述测试内容失败的环境因素；

测试用例确定模块，用于确定所述环境因素对应的至少一个参数变量，将所述至少一个参数变量添加至所述测试用例中，得到目标测试用例；

测试结果确定模块，用于运行所述目标测试用例得到所述待测部件的测试结果；

失败原因确定模块，用于根据所述测试结果确定导致所述测试内容的测试失败原因。

第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备，该电子设备包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序；

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现本申请任意实施例所述的自动化测试方法。

第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现本申请任意实施例所述的自动化测试方法。