[发明专利]特征点匹配方法、装置、电子设备和存储介质在审
申请号: | 202210178765.9 | 申请日: | 2022-02-25 |
公开(公告)号: | CN114723791A | 公开(公告)日: | 2022-07-08 |
发明(设计)人: | 张凯;胡玉新 | 申请(专利权)人: | 中国科学院空天信息创新研究院 |
主分类号: | G06T7/32 | 分类号: | G06T7/32;G06T7/33;G06T7/62 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 刘亚平 |
地址: | 100094*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 特征 匹配 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种特征点匹配方法,其特征在于,包括:
获取当前特征点匹配过程中基准图像和待配准图像之间的当前匹配点对集合;
基于所述当前匹配点对集合中每一匹配点对的仿射无关描述符,确定所述当前特征点匹配过程中的候选误匹配点对;所述仿射无关描述符是基于匹配点对中的特征点和所述特征点的近邻点确定的;
基于所述候选误匹配点对确定所述候选误匹配点对的点对变换误差,基于所述当前匹配点对集合确定所述基准图像和所述待配准图像之间的点对变换误差均值,并基于所述点对变换误差和/或所述点对变换误差均值,确定所述候选误匹配点对是否属于真实误匹配点对,并将删除真实误匹配点对后的当前匹配点对集合作为下一匹配点对集合;
若所述候选误匹配点对均不属于真实误匹配点对,则将所述当前匹配点对集合中的所有匹配点对确定为所述基准图像和所述待配准图像之间的配准特征点对。
2.根据权利要求1所述的特征点匹配方法,其特征在于,所述基于所述点对变换误差和/或所述点对变换误差均值,确定所述候选误匹配点对是否属于真实误匹配点对,包括:
若删除任一候选误匹配点对后所述基准图像和所述待配准图像之间的点对变换误差均值变化量大于第一预设阈值,则将所述任一候选误匹配点对确定为真实误匹配点对;
其中,所述点对变换误差均值变化量是基于所述点对变换误差均值,以及删除所述任一候选误匹配点对后所述基准图像和所述待配准图像之间的点对变换误差均值确定的。
3.根据权利要求1所述的特征点匹配方法,其特征在于,所述基于所述点对变换误差和/或所述点对变换误差均值,确定所述候选误匹配点对是否属于真实误匹配点对,包括:
在所述候选误匹配点对的点对变换误差中的最大值大于所述当前匹配点对集合对应的点对变换误差均值并且所述当前匹配点对集合对应的点对变换误差均值大于第一预设阈值的情况下,对于任一候选误匹配点对,删除所述任一候选误匹配点对后所述基准图像和所述待配准图像之间的点对变换误差均值变化量小于第一预设阈值,且所述任一候选误匹配点对的点对变换误差大于所述当前匹配点对集合对应的点对变换误差均值,则将所述任一候选误匹配点对确定为真实误匹配点对。
4.根据权利要求1所述的特征点匹配方法,其特征在于,所述基于所述点对变换误差和/或所述点对变换误差均值,确定所述候选误匹配点对是否属于真实误匹配点对,包括:
若所述候选误匹配点对的点对变换误差中的最大值小于等于所述当前匹配点对集合对应的点对变换误差均值,且所述候选误匹配点对的仿射无关描述符为预设值,则将点对变换误差大于第二预设阈值的候选误匹配点对确定为真实误匹配点对。
5.根据权利要求1至4任一项所述的特征点匹配方法,其特征在于,所述仿射无关描述符是基于如下步骤确定的:
对基准图像和待配准图像进行特征点检测,得到多个匹配点对;所述匹配点对包括所述基准图像中的第一特征点,以及所述待配准图像中与所述第一特征点对应的第二特征点;
以所述基准图像中任一第一特征点为当前第一特征点,基于所述基准图像中其余第一特征点与所述当前第一特征点之间的距离,确定所述当前第一特征点在所述基准图像中的第一近邻点,将所述第一近邻点以及所述第一近邻点在所述待配准图像中对应的第二特征点作为所述当前第一特征点的第一近邻点集合;
基于所述当前第一特征点对应的当前第二特征点,以及所述待配准图像中其余第二特征点与所述当前第二特征点之间的距离,确定所述当前第二特征点在所述待配准图像中的第二近邻点,将所述第二近邻点以及所述第二近邻点在所述基准图像中对应的第一特征点作为所述当前第二特征点的第二近邻点集合;
基于所述当前第一特征点的第一近邻点集合,以及所述当前第二特征点的第二近邻点集合,确定所述当前匹配点对的仿射无关描述符。
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