[发明专利]一种用于多层式检测设备的供料方法及其系统在审
申请号: | 202210181595.X | 申请日: | 2022-02-25 |
公开(公告)号: | CN114735467A | 公开(公告)日: | 2022-07-12 |
发明(设计)人: | 曹明阳;邱成;陈文艺 | 申请(专利权)人: | 杭州长川科技股份有限公司 |
主分类号: | B65G49/07 | 分类号: | B65G49/07;B65G43/08;G01R1/04;G01R31/28 |
代理公司: | 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 | 代理人: | 安威威 |
地址: | 310051 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 多层 检测 设备 供料 方法 及其 系统 | ||
1.一种用于多层式检测设备的供料方法,其中该多层式检测设备包括一个升降电梯和对应地叠置在该升降电梯一侧的多层测试平台,并且每层测试平台设有流转机械手和多个测试机,其特征在于,所述用于多层式检测设备的供料方法包括步骤:
模糊判断每层测试平台是否处于空闲状态,以确定存在空闲测试机的测试平台作为目标层,使得待测料盘被转运至该目标层的暂存区;和
精确判断该目标层中的空闲测试机所处的位置,以控制该目标层的流转机械手将该待测料盘中的芯片从该暂存区搬运至与该空闲测试机对应的工位。
2.如权利要求1所述的用于多层式检测设备的供料方法,其特征在于,所述模糊判断每层测试平台是否处于空闲状态,以确定存在空闲测试机的测试平台作为目标层,使得待测料盘被转运至该目标层的暂存区的步骤,包括步骤:
通过第一类传感器监测测试机的状态,以将每层测试平台中测试机的状态或集值作为每层测试平台的层状态值;
基于每层测试平台的层状态值,确定存在空闲的测试机的测试平台以作为该目标层;以及
控制该升降电梯将该待测料盘转运至该目标层的暂存区以进行排队。
3.如权利要求2所述的用于多层式检测设备的供料方法,其特征在于,每层测试平台的测试机包括用于对芯片进行第一项测试的第一类测试机和用于对芯片进行第二项测试的第二类测试机,并且每层测试平台的层状态值等于每层测试平台中该第一类测试机的状态值之积。
4.如权利要求3所述的用于多层式检测设备的供料方法,其特征在于,在所述基于每层测试平台的层状态值,确定存在空闲的测试机的测试平台以作为该目标层的步骤中:
当存在两个或两个以上的目标层时,自下而上地就近输送该待测料盘。
5.如权利要求3或4所述的用于多层式检测设备的供料方法,其特征在于,所述精确判断该目标层中的空闲测试机所处的位置,以控制该目标层的流转机械手将该待测料盘中的芯片从该暂存区搬运至与该空闲测试机对应的工位的步骤,包括步骤:
检索该目标层中每个第一类测试机的状态值,以将状态值为零的第一类测试机作为该空闲测试机;和
控制该目标层的流转机械手将该待测料盘中的芯片从该暂存区搬运至与该空闲测试机对应的工位。
6.如权利要求3或4所述的用于多层式检测设备的供料方法,其特征在于,进一步包括步骤:
先后判断每层测试平台中第二类测试机和第一类测试机的状态,以通过控制每层测试平台中的流转机械手将经由第一类测试机测试完的芯片搬运至与空闲的第二类测试机对应的工位。
7.如权利要求6所述的用于多层式检测设备的供料方法,其特征在于,所述先后判断每层测试平台中第二类测试机和第一类测试机的状态,以通过控制每层测试平台中的流转机械手将经由第一类测试机测试完的芯片搬运至与空闲的第二类测试机对应的工位的步骤,包括步骤:
通过第一类传感器监测第二类测试机的状态,以确定是否存在空闲的第二类测试机;
响应于存在空闲的第二类测试机,通过传感器监测与该空闲的第二类测试机对应的测试平台中是否存在经由第一类测试机测试完毕的芯片;以及
响应于存在完成第一项测试的芯片,控制该测试平台的流转机械手将完成第一项测试的芯片搬运至与该空闲的第二类测试机对应的工位。
8.如权利要求1至4中任一所述的用于多层式检测设备的供料方法,其特征在于,进一步包括步骤:
通过第二类传感器监测所有的测试机是否存在异常,以在存在异常时触发报警机制;
其中所述通过第二类传感器监测所有的测试机是否存在异常,以在存在异常时触发报警机制的步骤,包括步骤:
通过该第二类传感器监测所有的测试机是否存在异常;
响应于存在异常测试机,判断该异常测试机的异常类型,以根据异常类型确定报警等级;
响应于报警等级为人工干预警报,控制测试设备停机以进行人工修复;以及
响应于报警等级为非人工干预警报,控制测试设备进行自动修复。
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