[发明专利]一种测试用例确定方法、系统及相关组件

说明书

本申请公开了一种测试用例确定方法、系统及相关组件，该方法包括：接收目标测试参数；查询激励池中是否存在对应所述目标测试参数的测试激励序列；若否，则根据所述目标测试参数和测试函数生成所述测试激励序列；输出所述测试激励序列，以生成测试用例进行待测设计验证。本申请根据目标测试参数自动输出测试激励序列，该激励序列能够直接生成测试用例进行待测设计验证，避免了繁杂的手动配置及流程梳理，具有灵活复用、利用项目迭代的优点。

技术领域

本发明涉及系统测试领域，特别涉及一种测试用例确定方法、系统及相关组件。

背景技术

当前，测试验证是芯片开发过程中至关重要的过程，是决定待测设计正常并正确工作的关键点。目前，最通用的验证方法是采用UVM(Universal VerificationMethodology，通用验证方法)方法，从搭建UVM验证平台到开发基于SV语言的测试用例，其中激励Sequence是最重要的一环，它用于产生测试激励，以使被测设备工作，进而观测测试结果。

当被测设备为SoC(Systemon Chip，片上系统)级，由于规模过大，众多调试资源需要调试，无疑会增加验证人员的调试复杂度。编译基于SV(System Verilog，系统硬件描述语言)语言开发的测试用例时，将涉及到对整个UVM验证环境的编译，继而生成可执行文件(simv)。该过程耗时长，对服务器资源的消耗较大，不宜频繁修改测试用例，对于测试用例需求较高的被测设备来说灵活性不强。

因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是目前本领域技术人员需要解决的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种高效快速的测试用例确定方法、系统及相关组件。其具体方案如下：

一种测试用例确定方法，包括：

接收目标测试参数；

查询激励池中是否存在对应所述目标测试参数的测试激励序列；

若否，则根据所述目标测试参数和测试函数生成所述测试激励序列；

输出所述测试激励序列，以生成测试用例进行待测设计验证。

优选的，所述根据所述目标测试参数和测试函数生成所述测试激励序列的过程，包括：根据所述目标测试参数和测试函数，通过JTAG接口链生成所述测试激励序列。

优选的，所述测试激励序列具体为IR序列和DR序列。

优选的，所述待测设计为包括DAP的待测设计。

优选的，所述根据所述目标测试参数和测试函数生成所述测试激励序列的过程包括：

根据所述目标测试参数和测试函数生成并结合DPI-C接口方法输出所述测试激励序列。

优选的，所述测试函数包括：

VIP复位与解复位函数；

IR/DR载入函数；

TDO检查函数；

基本测试用例函数。

优选的，所述测试用例为C语言测试用例；

相应的，所述测试用例进行待测设计验证的过程包括：对所述测试用例在编译过程中产生的预设格式文件发送到可执行文件，以启动待测设计验证。

相应的，本申请还公开了一种测试用例确定系统，包括：

参数接口，用于接收目标测试参数；

动作模块，用于查询激励池中是否存在对应所述目标测试参数的测试激励序列；若否，则根据所述目标测试参数和测试函数生成所述测试激励序列；