[发明专利]声扫图像数据库的构建方法、装置、计算机设备有效

专利信息
申请号: 202210183882.4 申请日: 2022-02-28
公开(公告)号: CN114240947B 公开(公告)日: 2022-06-14
发明(设计)人: 赵玥;罗军;王小强;罗道军;邱宝军;胡湘洪 申请(专利权)人: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06V10/72;G06V10/764;G06V10/774;G06V10/82;G06V20/69;G06F16/51;G06K9/62
代理公司: 华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 唐敏
地址: 511300 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 图像 数据库 构建 方法 装置 计算机 设备
【说明书】:

本申请涉及一种声扫图像数据库的构建方法、装置、计算机设备、存储介质。所述方法包括:通过获取经超声扫描显微镜对集成电路样品进行扫描得到的原始声扫图像,并对该原始声扫图像进行图像分层和图像裁剪处理,得到样本图像。对该样本图像进行数据清洗处理,得到数据清洗后的待检测样本图像。获取对该待检测样本图像进行缺陷标注所得到的标注图像,并基于该标注图像构建多类别声扫图像数据库。通过目标检测模型,对该多类别声扫图像数据库进行有效判定,确定有效判定结果。若该有效判定结果表征通过,则确定多类别声扫图像数据库为有效的多类别声扫图像数据库。这样,能够大大提高对集成电路智能检测的精准度。

技术领域

本申请涉及电子技术领域,特别是涉及一种声扫图像数据库的构建方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。

背景技术

随着电子技术的发展,电子产品集成度不断增加,电子产品的封装结构也越来越复杂。其中,一旦电子产品的集成电路出现分层、裂纹和空洞等缺陷,会导致集成电路内部断线,从而产生可靠性问题。因此,在对电子产品进行装配前,常常会对电子产品中的集成电路进行缺陷检测。

虽然,在集成电路的缺陷检测方面,存在根据传统光学图像构建数据库的方法。然而,根据传统光学构建的数据库是无法适用在超声扫描显微镜的场景中,也就无法对声扫图像进行统一整理和分类,从而难以构建有效的声扫图像数据库,进而无法得到训练效果好的缺陷检测模型,存在对集成电路进行智能缺陷检测的精准度低的问题。

发明内容

基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种声扫图像数据库的构建方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。

第一方面,本申请提供了一种声扫图像数据库的构建方法。所述方法包括:

获取经超声扫描显微镜对集成电路样品进行扫描得到的原始声扫图像,并对所述原始声扫图像进行图像分层和图像裁剪处理,得到样本图像;

对所述样本图像进行数据清洗处理,得到数据清洗后的待检测样本图像;

获取对所述待检测样本图像进行缺陷标注所得到的标注图像,并基于所述标注图像构建多类别声扫图像数据库;

通过目标检测模型,对所述多类别声扫图像数据库进行有效判定,确定有效判定结果;

若所述有效判定结果表征通过,则确定多类别声扫图像数据库为有效的多类别声扫图像数据库,所述有效的多类别声扫图像数据库用于训练缺陷检测模型,以实现对集成电路进行智能缺陷检测。

第二方面,本申请还提供了一种声扫图像数据库的构建装置。所述装置包括:

获取模块,用于获取经超声扫描显微镜对集成电路样品进行扫描得到的原始声扫图像,并对所述原始声扫图像进行图像分层和图像裁剪处理,得到样本图像;

清洗模块,用于对所述样本图像进行数据清洗处理,得到数据清洗后的待检测样本图像;

构建模块,用于获取对所述待检测样本图像进行缺陷标注所得到的标注图像,并基于所述标注图像构建多类别声扫图像数据库;

判定模块,用于通过目标检测模型,对所述多类别声扫图像数据库进行有效判定,确定有效判定结果;

确定模块,用于若所述有效判定结果表征通过,则确定多类别声扫图像数据库为有效的多类别声扫图像数据库,所述有效的多类别声扫图像数据库用于训练缺陷检测模型,以实现对集成电路进行智能缺陷检测。

第三方面,本申请还提供了一种计算机设备。所述计算机设备包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤:

获取经超声扫描显微镜对集成电路样品进行扫描得到的原始声扫图像,并对所述原始声扫图像进行图像分层和图像裁剪处理,得到样本图像;

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