[发明专利]一种CPCI测试夹具

说明书

本发明公开了一种CPCI测试夹具。该夹具通过PCB将J30J连接器单元和CPCI总线连接单元集成在壳体中，PCB安装在壳体底部，CPCI总线连接单元装配在PCB上，J30J连接器单元装配在壳体的侧面，且显露在壳体侧面外部，通过外部的J30J连接器连接至CPCI主机；CPCI总线连接单元的输入端连接被测产品，输出端连接J30J连接器单元。本发明将主机的CPCI总线扩展至主机外部，与主机通过线缆连接，板卡插入夹具的CPCI插槽测试，避免了反复插拔对主机造成的损害，既方便又提高了测试效率；CPCI测试夹具设置电源开关，这样在不关闭主机电源的情况下即可更换板卡，提高了测试效率及测试可靠性。

技术领域

本发明涉及CPCI总线板卡测试设备，具体涉及一种用于CPCI信号转接的CPCI测试夹具。

背景技术

CPCI总线板卡设计和生产过程中需要对其进行调试，目前大多数的CPCI板卡测试都是将板卡插入主机CPCI插槽中进行测试，这样测试存在以下几个问题：

1、CPCI板卡多次插拔容易损坏主机CPCI插槽，轻则造成可靠性降低，重则使CPCI主机彻底报废。2、CPCI板卡插入主机测试为黑盒测试模式，不能直观观察板卡上设计的指示状态，同时也不能通过万用表及示波器等辅助调测。3、CPCI板卡插入主机测试不方便对故障板卡飞线测试。4、CPCI板卡插入主机测试在更换板卡时需要将主机彻底关机，对测试效率造成很大影响。

发明内容

鉴于以上现有技术存在的问题，本发明提供一种用于CPCI信号转接的CPCI测试夹具。

本发明采取的技术方案是：一种CPCI测试夹具，所述CPCI测试夹具通过测试夹具PCB将J30J连接器单元和CPCI总线连接单元集成在壳体中，用于CPCI信号的转接；其中，所述测试夹具PCB安装在壳体底部，所述CPCI总线连接单元装配在测试夹具PCB上，所述J30J连接器单元装配在壳体的侧面，且显露在壳体侧面外部，用于连接外部的J30J连接器，通过外部的J30J连接器连接至CPCI主机；同时CPCI测试夹具中的CPCI总线连接单元输入端连接被测产品，CPCI总线连接单元输出端通过测试夹具PCB连接J30J连接器单元。

所述J30J连接器单元包括六个连接器，分别为：两个型号均为J30J-66ZKW的连接器J1-1、连接器J1-2；两个型号均为J30J-74ZKW的连接器J2-1、连接器J2-2；两个型号均为J30J-100ZKW的连接器J3-1、连接器J3-2。

所述CPCI总线连接单元包括四个连接器，分别为：CPCI_P1连接器、CPCI_P2连接器、CPCI2_P1连接器、CPCI2_P2连接器，每个连接器分为五个区域，CPCI_P1连接器的五个区域分别为：P1B、P1C、P1D、P1E、P1F区域；CPCI_P2连接器的五个区域分别为：P2B、P2C、P2D、P2E、P2F区域；CPCI2_P1连接器的五个区域分别为：P2-1B、P2-1C、P2-1D、P2-1E、P2-1F区域；CPCI2_P2连接器的五个区域分别为：P2-2B、P2-2C、P2-2D、P2-2E、P2-2F区域；共二十个区域分别连接所述J30J连接器单元的六个连接器。

所述CPCI_P1连接器P1B区域的第a1管脚至a25管脚分别连接所述连接器J1-1的第1-A1至1-A25管脚；P1C区域的第b1管脚至b25管脚分别连接连接器J1-1的第1-B1至1-B25管脚；P1D区域的第c1管脚至c25管脚分别连接连接器J1-1的第1-C1至1-C25管脚；P1E区域的第d1管脚至d25管脚分别连接连接器J2-1的第1-D1至1-D25管脚；P1F区域的第e1管脚至第e25管脚分别连接连接器J2-1的第1-E1至1-E25管脚。