[发明专利]一种X射线无损检测设备及检测方法

权利要求书

1.一种X射线无损检测设备，其特征在于，包括：

铅房(100)，所述铅房(100)设有第一送料口(102)和第二送料口，所述第一送料口(102)和所述第二送料口设置在所述铅房(100)相对的两个侧壁上，所述第一送料口(102)处设有可开合地第一防护铅门，所述第一防护铅门能够封堵所述第一送料口(102)，所述第二送料口处设有可开合地第二防护铅门，所述第二防护铅门能够封堵所述第二送料口，所述铅房(100)内形成检测空间；

输送机构(200)，所述输送机构(200)设置在所述铅房(100)内，所述输送机构(200)上设有载物台，所述载物台用于放置待检测工件，所述输送机构(200)能够将所述载物台从所述第一送料口(102)处移动至检测工位；

光管组件(300)，所述光管组件(300)设置在所述铅房(100)内位于所述输送机构(200)的下方，所述光管组件(300)包括射线源，所述射线源被配置为向待检测工件发送X射线；以及

探测装置，所述探测装置包括移动机构(400)和探测器(500)，所述探测器(500)安装在所述移动机构(400)上，所述移动机构(400)固定在所述铅房(100)顶部的内侧，所述移动机构(400)被配置为带动所述探测器(500)在所述检测空间内移动。

2.根据权利要求1所述的X射线无损检测设备，其特征在于，所述移动机构(400)包括旋转机构、直线运动机构和弧线运动机构，所述旋转机构被配置为带动所述探测器(500)在所述检测空间内转动，所述直线运动机构被配置为带动所述探测器(500)沿第一方向直线运动，所述弧线运动机构被配置为带动所述探测器(500)沿预设的弧线运动。

3.根据权利要求2所述的X射线无损检测设备，其特征在于，所述旋转机构包括固定座(401)、旋转轴(402)和轴承，所述固定座(401)固定在所述铅房(100)顶部的内侧，所述旋转轴(402)安装在所述固定座(401)上，所述轴承设置在所述固定座(401)与所述旋转轴(402)之间。

4.根据权利要求3所述的X射线无损检测设备，其特征在于，所述直线运动机构包括第一连接板(403)、第一滑轨(404)和第一滑块(405)，所述第一连接板(403)与所述旋转轴(402)固定连接，所述第一滑轨(404)固定在所述第一连接板(403)上，所述第一滑块(405)能够沿所述第一滑轨(404)滑动。

5.根据权利要求4所述的X射线无损检测设备，其特征在于，所述第一滑轨(404)为直线滑轨。

6.根据权利要求4所述的X射线无损检测设备，其特征在于，所述弧线运动机构包括第二连接板(406)、第二滑轨(407)和第二滑块(408)，所述第二连接板(406)固定在所述第一滑块(405)上，所述第二滑轨(407)设置在所述第二连接板(406)上，所述第二滑块(408)能够沿所述第二滑轨(407)滑动，所述探测器(500)设置在所述第二滑块(408)上。

7.根据权利要求6所述的X射线无损检测设备，其特征在于，所述第二连接板(406)为弧形。

8.根据权利要求6所述的X射线无损检测设备，其特征在于，所述第二滑轨(407)为弧形滑轨。

9.根据权利要求1所述的X射线无损检测设备，其特征在于，所述铅房(100)上还设有检修口，所述检修口处设有可开合地第三防护铅门(101)，所述第三防护铅门(101)上设有可视窗口(103)。

10.一种X射线无损检测设备的检测方法，其特征在于，应用上述权利要求1-9中任一项所述X射线无损检测设备对待检测工件进行无损检测，具体操作步骤如下：

S101、第一防护铅门打开，输送机构(200)的载物台移动至第一送料口(102)处；

S102、将待检测工件放置到所述载物台后，第一防护铅门关闭，输送机构(200)将所述待检测工件从所述第一送料口(102)处移动至检测工位；

S103、光管组件(300)移动到对应的检测位置，并向所述待检测工件发送X射线，保证探测器(500)始终对焦于所述光管组件(300)的射线源的焦点，对所述待检测工件进行无损检测；

S104、所述待检测工件的全部面扫描完成之后，输送机构(200)将所述待检测工件送至第二送料口处，第二防护铅门开启，将所述待检测工件从第二送料口取出，更换下一个待检测工件。