[发明专利]一种超声波检测系统和方法

权利要求书

1.一种超声波检测系统，其特征在于，包括：Chirp波生成电路、超声波生成模块、Chirp波放大滤波电路模块、低频放大滤波电路模块、Chirp波相关计算电路模块、低频相关计算电路模块以及CPU处理单元；

其中，Chirp波生成电路，用于产生Chirp波并将产生的Chirp波输出给麦克风；

超声波生成模块，用于产生超声波信号；

Chirp波放大滤波电路模块，用于对超声波的回波信号进行放大滤波处理；

低频放大滤波电路模块，用于放大来自被测物体的回波信号和发送的Chirp波之间的频差信号；

Chirp波相关计算电路模块，用于计算超声波的回波信号与对应参照波之间的第一相关值，并将所述第一相关值输入CPU处理单元；

低频相关计算电路模块，用于计算所述频差信号与不同参照周期下各参照波的第二相关值，并将所述第二相关值输入CPU处理单元；

CPU处理单元，包括远距离判定处理模块和近距离判定处理模块，所述远距离判定处理模块用于根据所述第一相关值中最大值对应的时间，确定被测物体的远距离检测信息；所述近距离判定处理模块用于根据所述第二相关值确定被测物体的近距离检测信息。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述近距离判定处理模块具体用于执行：

根据所述第二相关值中的最大值对应的参照波周期以及不同参照波周期对应的距离变换值，确定被测物体的近距离检测信息。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，确定不同参照波周期对应的距离变换值，包括：

根据Chirp波的发送时长确定最大检测距离；

根据所述最大检测距离，以及不同参照波周期对应的频差与Chirp频带宽度确定不同参照周期对应的距离变换。

4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述CPU处理单元还包括：

Chirp波生成处理模块，用于生成Chirp波；

参照波生成处理模块，用于生成参照波；

输出处理模块，用于输出被测物体的近距离检测信息和远距离检测信息。

5.一种基于权利要求1-4任一项所述的超声波检测系统的超声波检测方法，其特征在于，包括：

计算Chirp型超声波的回波信号与对应参照波之间的第一相关值，根据所述第一相关值中最大值对应的时间，确定被测物体的远距离检测信息；

获取Chirp型超声波的回波信号和发送的Chirp波之间的频差信号，计算所述频差信号与不同参照周期下各参照波的第二相关值，根据所述第二相关值确定被测物体的近距离检测信息。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，根据所述第二相关值确定被测物体的近距离检测信息，包括：

根据所述第二相关值中的最大值对应的参照波周期以及不同参照波周期对应的距离变换值，确定被测物体的近距离检测信息。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，确定不同参照周期对应的距离变换值，包括：

根据Chirp波的发送时长确定最大检测距离；

根据所述最大检测距离，以及不同参照波周期对应的频差与Chirp频带宽度确定不同参照周期对应的距离变换。