[发明专利]一种电感的绕组损耗测量方法及系统

权利要求书

1.一种电感的绕组损耗测量方法，其特征在于，包括：

S1:提供一功率电路；

S2: 形成第一测试电路，所述第一测试电路包括一待测电感和所述功率电路，所述待测电感连接至所述功率电路的两端，控制所述功率电路工作在第一状态，得到第一损耗方程式；

S3: 形成第二测试电路，所述第二测试电路包括至少一辅助电感、至少一所述待测电感和所述功率电路，至少一所述辅助电感和至少一所述待测电感连接至所述功率电路的两端，其中至少一所述辅助电感和至少一所述待测电感形成的电感单元的感量等于所述待测电感的感量，控制所述功率电路工作在第一状态，得到第二损耗方程式；

S4: 形成第三测试电路，所述第三测试电路包括至少一所述辅助电感和所述功率电路，至少一所述辅助电感连接至所述功率电路的两端，至少一所述辅助电感形成的电感单元的感量等于所述待测电感的感量，控制所述功率电路工作在第一状态，得到第三损耗方程式；

S5:根据所述第一损耗方程式、所述第二损耗方程式和所述第三损耗方程式解方程得到所述待测电感的绕组损耗。

2.根据权利要求1所述的电感的绕组损耗测量方法，其特征在于，在步骤S2中，获得所述待测电感的磁芯损耗C1和所述第一测试电路的总损耗M1，得到所述第一损耗方程式：M1=C1+A+W1，其中W1为所述待测电感的绕组损耗，A为所述功率电路的损耗。

3.根据权利要求2所述的电感的绕组损耗测量方法，其特征在于，在步骤S3中，所述辅助电感的个数为n-1个，所述待测电感的个数为n个，其中每一所述辅助电感的感量为所述待测电感的感量的n倍，将n个所述待测电感串联连接后连接至所述功率电路的两端，将n-1个所述辅助电感分别连接至所述功率电路的两端，并获得n个所述待测电感的磁芯总损耗C2、n-1个所述辅助电感的磁芯总损耗C3以及所述第二测试电路的总损耗M2，其中n为大于等于2的整数，得到所述第二损耗方程式：M2= C2+C3+A+1/n*W1+(n-1)*W2，其中W1为所述待测电感的绕组损耗，W2为所述辅助电感的绕组损耗，A为所述功率电路的损耗。

4.根据权利要求3所述的电感的绕组损耗测量方法，其特征在于，在步骤S4中，所述辅助电感的个数为n个，将n个所述辅助电感分别连接至所述功率电路的两端，并获得n个所述辅助电感的磁芯总损耗C4以及所述第三测试电路的总损耗M3，得到所述第三损耗方程式：M3= C4+A+n*W2，其中W2为所述辅助电感的绕组损耗，A为所述功率电路的损耗。

5.根据权利要求4所述的电感的绕组损耗测量方法，其特征在于，n=2。

6.根据权利要求1所述的电感的绕组损耗测量方法，其特征在于，所述待测电感和所述辅助电感的磁芯均为铁氧体磁芯。

7.一种电感的绕组损耗测量系统，其特征在于，包括：

第一测试电路，包括一功率电路和一待测电感，所述待测电感连接至所述功率电路的两端；

第二测试电路，包括至少一辅助电感、至少一所述待测电感和所述功率电路，至少一所述辅助电感和至少一所述待测电感连接至所述功率电路的两端，其中至少一所述辅助电感和至少一所述待测电感形成的电感单元的感量等于所述待测电感的感量；

第三测试电路，包括至少一所述辅助电感和所述功率电路，至少一所述辅助电感连接至所述功率电路的两端，至少一所述辅助电感形成的电感单元的感量等于所述待测电感的感量，其中，所述第一测试电路、所述第二测试电路和所述第三测试电路中的所述功率电路相同。

8.根据权利要求7所述的电感的绕组损耗测量系统，其特征在于，在所述第二测试电路中，所述辅助电感的个数为1个，所述待测电感的个数为2个，其中每一所述辅助电感的感量为所述待测电感的感量的2倍，2个所述待测电感串联连接后连接至所述功率电路的两端，所述辅助电感连接至所述功率电路的两端。