[发明专利]谐波抑制电路及射频ATE测试机

权利要求书

1.一种谐波抑制电路，其特征在于，包括：输入开关、输出开关以及位于所述输入开关与所述输出开关之间的多个并联连接的谐波抑制子电路，每个所述谐波抑制子电路包括串联连接的相位调节模块和低通滤波器；其中，

所述输入开关根据输入基频信号对相应的其中一个所述谐波抑制子电路进行导通；

所述相位调节模块通过调节射频通路长度来调节不同频率信号的相位，使电路中不同元器件对最后产生的谐波有相反的相位而进行相互抵消；

所述低通滤波器对不同基频信号的谐波进行抑制；

所述输出开关根据基频信号对相应的所述谐波抑制子电路进行导通。

2.如权利要求1所述的谐波抑制电路，其特征在于，每个所述谐波抑制子电路还包括隔离开关，所述隔离开关对不同的所述谐波抑制子电路起到隔离作用。

3.如权利要求2所述的谐波抑制电路，其特征在于，所述隔离开关位于所述相位调节模块与所述低通滤波器之间。

4.如权利要求1所述的谐波抑制电路，其特征在于，所述谐波抑制电路包括四个并联连接的所述谐波抑制子电路。

5.如权利要求1所述的谐波抑制电路，其特征在于，不同的所述谐波抑制子电路中的所述低通滤波器的频段不同。

6.如权利要求1所述的谐波抑制电路，其特征在于，所述相位调节模块保持基波信号不变。

7.如权利要求1所述的谐波抑制电路，其特征在于，所述相位调节模块调节相位的公式包含：

αcos（2W+θ）=A₁ cos（2W+θ₁）+A₂ cos（2W+θ₂）+……+ A_n cos（2W+θ_n）,

其中，W代表基波的频率，2W代表二次谐波，A1、A2、……、An代表以不同方式产生该次谐波的幅度，θ代表谐波的相位，n代表产生该次谐波的途径数，α是合成后的基波的幅度；

所述相位调节模块调节相位的目标是使α绝对值降到最小。

8.一种射频ATE测试机，其特征在于，包括：发射链路、谐波抑制电路与接收链路，其中，所述谐波抑制电路为如权利要求1~7中任一项所述的谐波抑制电路。

9.如权利要求8所述的射频ATE测试机，其特征在于，在所述接收链路与所述谐波抑制电路之间设置有待测设备或直通件。

10.如权利要求8所述的射频ATE测试机，其特征在于，所述相位调节模块调节相位的步骤包括：

步骤1：所述相位调节模块调节所述射频通路的长度变长；

步骤2：所述接收链路监控谐波是否变好；

步骤3：若是，则所述相位调节模块调节所述射频通路的长度继续变长，执行步骤1；

若否，则执行步骤4；

步骤4：所述相位调节模块调节所述射频通路的长度变短；

步骤5：所述接收链路监控谐波是否变好；

步骤6：若是，则所述相位调节模块调节所述射频通路的长度继续变短，执行步骤4；

若否，则所述相位调节模块调节所述射频通路的长度至步骤4中的长度，并结束调节。