[发明专利]一种金属裂纹检测方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种金属裂纹检测方法，其特征在于，包括：

获取待检图片，将所述待检图片输入预设的特征提取网络，经所述特征提取网络的卷积层处理后，输出特征图；

使用所述特征提取网络的检测层对所述特征图进行再次特征提取和分析，得到金属裂纹检测结果，所述金属裂纹检测结果包括第一特征图、第二特征图、第三特征图和第四特征图；

其中，所述第一特征图用于表征是否存在目标物体，所述第二特征图用于表征所述目标物体的中心点相较于所述第一特征图的特征点的偏移量，所述第三特征图用于表征所述目标物体对应的目标框的宽高，所述第四特征图用于表征所述目标框的倾斜角度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述卷积层包括依次连接的第一卷积层、第二卷积层、第三卷积层、第四卷积层、第五卷积层和反卷积层；

所述第一卷积层包括第一卷积模块；

所述第二卷积层包括第二卷积模块和第一细节特征提取模块；

所述第三卷积层包括第三卷积模块和第二细节特征提取模块；

所述第四卷积层包括第四卷积模块和第三细节特征提取模块；

所述第五卷积层包括第五卷积模块；

所述反卷积层包括至少三个反卷积模块。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将所述待检图片输入预设的特征提取网络，经所述特征提取网络的卷积层处理后，输出特征图，包括：

使用所述第一卷积模块对所述待检图片进行特征提取，获得第一图像特征；

使用所述第二卷积模块、第一细节特征提取模块和第三卷积模块对所述第一图像特征进行特征提取，获得第二图像特征；

使用所述第四卷积模块和第二细节特征提取模块对所述第二图像特征进行特征提取，获得第三图像特征；

使用所述第五卷积模块和第三细节特征提取模块对所述第三图像特征进行特征提取，获得第四图像特征；

使用所述至少三个反卷积模块对所述第四图像特征进行反卷积，获得特征图。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述使用所述第二卷积模块、第一细节特征提取模块和第三卷积模块对所述第一图像特征进行特征提取，获得第二图像特征，包括：

使用所述第二卷积模块对所述第一图像特征进行特征提取，得到第一卷积提取特征；

使用所述第三卷积模块对所述第一卷积提取特征进行特征提取，得到第二卷积提取特征；

使用所述第一细节特征提取模块对所述第一卷积提取特征进行特征提取，得到细节提取特征；

对所述第二卷积提取特征和所述细节提取特征进行叠加，得到第二图像特征。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述使用所述第一细节特征提取模块对所述第一图像特征进行特征提取，得到细节提取特征，包括：

对所述第一图像特征进行空洞卷积和下采样处理，得到空洞卷积特征；

对所述空洞卷积特征进行1*1卷积处理，得到细节提取特征。

6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述反卷积层包括第一反卷积模块、第二反卷积模块和第三反卷积模块；

所述使用所述至少三个反卷积模块对所述第四图像特征进行反卷积，获得特征图，包括：

使用所述第一反卷积模块对所述第四图像特征进行一次反卷积和上采样，得到第一反卷积特征；

使用所述第二反卷积模块对所述第一反卷积特征进行二次反卷积和上采样，得到第二反卷积特征；

使用所述第三反卷积模块对所述第二反卷积特征进行三次反卷积和上采样，得到特征图。