[发明专利]一种小电流测试系统

说明书

本发明旨在提供一种在不增加设备系统体积和成本的前提下，通过改变待机通道的电势来解决测试通道间的耦合干扰问题的小电流测试系统。本发明包括上位机、测试治具以及至少两个测试模块，所述测试模块包括电控测试盒和测试线束，所述电控测试盒与所述上位机电连接，所述测试治具通过所述测试线束与所述电控测试盒电连接；所述上位机用于控制所述电控测试盒的工作状态；所述测试线束为待机通道或者测试通道，用于传输电压；所述电控测试盒用于当进行单通道测试时，在待机通道上输出一定的电压值，使待机通道上的电势和测试通道上的电势保持一致。本发明应用于电子产品测试设备技术领域。

技术领域

本发明应用于电子产品测试设备技术领域，特别涉及一种小电流测试系统。

背景技术

在多通道小电流测试系统里，一般包含电控测试盒、测试连接线束、测试治具和被测产品（DUT）。在测试小电流时（如DUT的运行消耗电流和休眠消耗电流），若测试系统中存在漏电，则会影响到小电流的测试结果，从而会影响系统的测试准确性。

在应用的测试系统中，可能引起漏电的因素有：材料的绝缘等级、电路板的制作工艺、电子元器件的特性、测试通道间的电能耦合干扰等。而电能耦合干扰的问题在实际项目应用中可能表现为：当多个通道同时进行小电流测试时（nA级别），各通道的测试结果正常；当其它通道处于待机状态，只有某一个通道进行小电流测试时，测试的结果会变大。

以现有设备测试系统为例，如图1所示，多通道测试时，通道1的小电流测试结果在1nA左右；当其它通道处于待机状态，只有通道1进行测试时，测试结果就会变大至47nA。

经分析，可判定上述问题是由于通道间的耦合干扰所引起，原因是：测试设备系统中，每个通道在连接上是独立的，每个的测试通道长约2米，且具有测试线路的转接结构，所以每个通道上都会存在一定感抗，当单通道进行测试时，待机的通道上电势接近为0，远小于测试通道上的电势，同时，所有通道的间距较小，每根测试线束均以堆叠的状态进行摆放，所以电能可通过感抗的电磁效应耦合到其它待机通道的DUT上，形成一种充电效应，从而导致测试通道上的电流变大。

如图2所示，多通道同时测试时，每个通道上的电势都十分接近（假设电势值为V），通道之间的耦合能量会进行互相抵消，所以通道间因耦合干扰引起的影响较小。

如图3所示，单通道测试时（通道1），假设其电势为V，其它通道处于待机状态，电势接近为0。基于电磁耦合效应，电能将从高电势的通道耦合道低电势的通道，即电能将从通道1耦合到待机的通道上，从而形成充电效应，导致出现漏电现象，影响小电流的测试结果。

上述的耦合干扰属于EMC问题，一般可从干扰源、传播路径和干扰受体三方面进行解决，行业上较多使用的方法是增加物理屏蔽，如屏蔽罩、屏蔽层，切断干扰的传播途径来改善问题。但是，在不同的应用场景，增加屏蔽罩的难度有所不同，当治具内部的连接结构较为复杂时，添加屏蔽罩的难度就会大大增加，同时还可能会影响治具整体的体积，降低设备系统的便携性且会增加成本，不利于市场的推广应用。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种在不增加设备系统体积和成本的前提下，通过改变待机通道的电势来解决测试通道间的耦合干扰问题的小电流测试系统。

本发明所采用的技术方案是：本发明包括上位机、测试治具以及至少两个测试模块，所述测试模块包括电控测试盒和测试线束，所述电控测试盒与所述上位机电连接，所述测试治具通过所述测试线束与所述电控测试盒电连接；

所述上位机用于控制所述电控测试盒的工作状态；

所述测试线束为待机通道或者测试通道，用于传输电压；

所述测试治具用于放置至少两个电子产品，并且每个电子产品均与所述测试治具电连接；

所述电控测试盒用于当进行单通道测试时，在待机通道上输出一定的电压值，使待机通道上的电势和测试通道上的电势保持一致。