[发明专利]一种用于高光谱影像三维特征提取的张量奇异谱分析方法

权利要求书

1.一种用于高光谱影像三维特征提取的张量奇异谱分析方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：基于空间自相似性的自适应嵌入

S101：对于任意一个光谱像素，确定一个以其为中心的搜索区域；

S102：在搜索区域内，根据欧式距离判断邻域像素与中心像素的像素性；

S103：选择S102中一定数量的邻域像素与中心像素中的相似像素组合为矩阵，所有像素对应的矩阵排列为轨迹张量；

S2：基于t-SVD的分解和低秩表示，所述t-SVD为张量奇异值分解

S201：对得到的轨迹矩阵进行t-SVD分解，得到相应的左奇异张量、右奇异张量和管奇异值张量；

S202：通过选择重构数量，通过截断相应的奇异张量，重构得到低秩的、保留了主要内在特征轨迹张量；

S3：特征影像及分类

S301：对低秩轨迹张量进行重投影，可得到与原始影像相同尺寸的特征影像；

S302：在特征影像中，每类地物随机挑选一定数量的样本作为训练，剩余样本作为测试，并使用支持向量机(SVM)分类器进行精度评价。

2.根据权利要求1所述的一种用于高光谱影像三维特征提取的张量奇异谱分析方法，其特征在于，所述S103中的轨迹张亮在空间方向上是对应每个波段图像的伪Hankel矩阵，光谱方向上保留了原有光谱信息。

3.根据权利要求1所述的一种用于高光谱影像三维特征提取的张量奇异谱分析方法，其特征在于，所述S103中的相似像素的选择方式为确定一个局部搜索区域，在搜索区域内部根据欧式距离大小，将一定数量欧式距离最小的像素作为相似像素。

4.根据权利要求1所述的一种用于高光谱影像三维特征提取的张量奇异谱分析方法，其特征在于，所述S201中的分解将t-SVD作用于轨迹张量，在傅立叶变换域进行分解。

5.根据权利要求1所述的一种用于高光谱影像三维特征提取的张量奇异谱分析方法，其特征在于，所述S301中重投影的方式是以反嵌入的方式投影为高光谱影像大小。