[发明专利]一种基于DSP实现的目标一维位置参数测量方法在审
申请号: | 202210259208.X | 申请日: | 2022-03-16 |
公开(公告)号: | CN114693786A | 公开(公告)日: | 2022-07-01 |
发明(设计)人: | 宫久路;谌德荣;王泽鹏;温剑雄 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学;北京航宇天穹科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/73 | 分类号: | G06T7/73 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100081 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 dsp 实现 目标 位置 参数 测量方法 | ||
1.一种基于DSP实现的目标一维位置参数测量方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤1,对目标表面的人工标记的标记半径进行设计;
步骤2,利用快速标记检测算法获得标记中心初值及对标记点进行二次搜索;
步骤3,利用系统标定算法对相机与导轨间的相对位姿进行标定,建立准确的参数对应关系;
步骤4:利用基于DSP的快速标记检测算法对人工标记进行快速检测。
2.如权利要求1所述的一种基于DSP实现的目标一维位置参数测量方法,其特征在于,步骤1的具体实现方法如下:
步骤1.1:根据测量系统参数,半径为R的圆,其在水平方向上的最大成像像素数为nmax,则:
其中,dx为水平方向上的像元尺寸;
标记圆的几何半径为:
根据nmax的取值范围和测量系统的参数可获得R的取值范围;
步骤1.2:设标记圆的中心坐标:为(Xi,Y0,Zi),其成像椭圆的中心坐标为(xi,yi),其中,Xi与Zi的几何约束如下:
根据小孔成像模型,成像点横坐标xi可表示为:
滑块的位置参数可由式(3)、(4)联立得到:
3.如权利要求1所述的一种基于DSP实现的目标一维位置参数测量方法,其特征在于,步骤2的具体实现方法如下:
步骤2.1:对顶场进行隔列扫描全图像1/4的部分,获得标记中心初值;
步骤2.2:提取红色标记点,利用YUV图像的V分量进行筛选,保留V分量大于12的像素点;
后续将YUV分量转换为RGB分量进行筛选,转换方式如下:
满足以下条件的像素点即为标记点:
(R>50)(R>2.5·G||R-G>40)(R>2.5·B||R-B>40) (7)
步骤2.3:对标记点的X,Y坐标值取均值,即为标记中心Center0初值(r0,c0);
步骤2.4:根据标记中心初值确定顶场、底场的搜索区域,进行逐点扫描,对标记点进行二次搜索,
(1)顶场的搜索区域:以(r0,c0)为中心,半径为50像素的圆形区域;
(2)底场的搜索区域:以(r0+576/2,c0)为中心,半径为50像素的圆形区域;
步骤2.5:对标记点的坐标进行处理:
(1)顶场:设标记点坐标为(ri,ci)(行,列),转换为(2·ri-1,ci);
(2)底场:设标记点坐标为(ri,ci)(行,列),转换为(2·(ri-576/2),ci);
步骤2.6:对标记点列坐标进行畸变校正,取校正后的列坐标均值X0。
4.如权利要求1所述的一种基于DSP实现的目标一维位置参数测量方法,其特征在于,步骤3的具体实现方法如下:
步骤3.1:利用高精度控制系统沿导轨方向控制滑块移动,保存标定图像并记录滑块的真实位置参数,真实位置参数可控制系统给出;
步骤3.2:根据标记检测算法计算所有图像的标记中心X坐标;
步骤3.3:根据{标记中心坐标,位置参数真值}集合及位置参数求解函数式,基于最小二乘法拟合出距离、导轨倾角等系统参数;
步骤3.4:根据拟合参数,得到位置参数求解的表达式。
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