[发明专利]增材制造过程监测

权利要求书

1.一种用于增材制造机器的附加套件，该附加套件构造成在感兴趣区域上扫描构建束并且借此在位于所述感兴趣区域中的移动构建点处将材料添加到工件，该附加套件包括：

基板，其构造成用于安装至所述增材制造机器；

安装至所述基板的光学组件，该光学组件包括壳体和位于所述壳体内的分束器，其中所述壳体包括多个出口孔，其中所述分束器构造成将进入所述光学组件的电磁辐射分成多个束，其中所述光学组件构造成将所述多个束中的每个束引导到所述多个出口孔中的相应出口孔；

可移动反射器，其构造成将来自视场内的电磁辐射反射到所述光学组件，使得每个束包括来自所述视场的电磁辐射；和

控制器，其配置为使所述可移动反射器移动以保持所述移动构建点与所述视场之间的预定关系。

2.根据权利要求1所述的附加套件，其还包括多个透镜座，其中每个透镜座包括近侧端部和相对的远侧端部；

其中，每个透镜座的近侧端部在所述多个出口孔中的相应出口孔附近与所述壳体联接，使得每个透镜座能操作成接收所述多个束中的相应的束；和

其中，每个透镜座构造成将所述相应的束引导至所述透镜座的远侧端部。

3.根据权利要求2所述的附加套件，其中，所述多个透镜座中的至少一个透镜座被可移除地联接至所述壳体。

4.根据权利要求2所述的附加套件，其还包括多个光学传感器；

其中，每个光学传感器与所述多个透镜座中的相应透镜座的远侧端部联接；

其中，每个光学传感器配置成生成与沿着相应透镜座引导的束相关的信息。

5.根据权利要求4所述的附加套件，其中，所述多个光学传感器配置成同时生成与沿着相应透镜座引导的束相关的信息。

6.根据权利要求4所述的附加套件，其中，至少一个所述光学传感器包括摄像头。

7.根据权利要求2所述的附加套件，其中，所述多个束中的第一束在所述多个透镜座中的第一透镜座的远侧端部部分内主要包括第一波长范围内的电磁辐射；

其中，所述多个束中的第二束在所述多个透镜座中的第二透镜座的远侧端部部分内主要包括不同于所述第一波长范围的第二波长范围内的电磁辐射。

8.根据权利要求7所述的附加套件，其还包括：

第一光学传感器，其配置为生成与所述第一波长范围内的电磁辐射相关的信息，其中所述第一束被所述第一透镜座引导至所述第一光学传感器；和

第二光学传感器，其配置为生成与所述第二波长范围内的电磁辐射相关的信息，其中所述第二束被所述第二透镜座引导至所述第二光学传感器。

9.根据权利要求7所述的附加套件，其中，所述第一波长范围包括可见光；其中，所述第二波长范围包括红外辐射。

10.根据权利要求2所述的附加套件，其中，所述多个透镜座中的每个透镜座包括至少一个带螺纹的端部部分。

11.根据权利要求2所述的附加套件，其中，所述多个透镜座中的至少一个透镜座包括所述光学组件的一部分。

12.根据权利要求2所述的附加套件，其还包括光学传感器，所述光学传感器包括壳体和位于所述光学传感器的壳体内的感测区域；

其中，所述光学传感器的壳体与所述多个透镜座中的第一透镜座的远侧端部螺纹接合。

13.根据权利要求1所述的附加套件，其中，所述视场的面积为200mm²或更小。

14.根据权利要求1所述的附加套件，其中，保持所述移动构建点与所述视场之间的预定关系包括将所述移动构建点保持在所述视场内。