[发明专利]一种测试HJT电池片是否失效的方法在审
申请号: | 202210268519.2 | 申请日: | 2022-03-18 |
公开(公告)号: | CN114678287A | 公开(公告)日: | 2022-06-28 |
发明(设计)人: | 陈鹏;蔡瑜;王鹏;陈良水 | 申请(专利权)人: | 环晟光伏(江苏)有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H02S50/10 |
代理公司: | 天津诺德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 12213 | 代理人: | 栾志超 |
地址: | 214200 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测试 hjt 电池 是否 失效 方法 | ||
1.一种测试HJT电池片是否失效的方法,包括:
使用低温焊带对HJT电池片的正表面以及背表面进行焊接;
所述HJT电池片焊接完成后,在所述HJT电池片的正表面以及背表面的所述低温焊带上焊接汇流条,引出正负极;
在所述HJT电池片引出正负极后,使用前后胶膜覆盖所述HJT电池片的正表面以及背表面;
覆盖完成后,再使用包覆件对所述HJT电池片进行包裹,随后进行层压,得到测试样品;
将所述测试样品浸泡在水煮箱中的测试水中,浸泡一段时间,取出,通过EL检测仪对所述测试样品进行检测;
若所述测试样品符合判定条件,则所述测试样品未失效;若不符合所述判定条件,则所述测试样品已失效。
2.根据权利要求1所述的一种测试HJT电池片是否失效的方法,其特征在于:所述判定条件为所述测试样品的主栅之间未出现发黑现象,若所述测试样品的主栅之间没有发黑现象,则所述测试样品未失效;若所述测试样品的主栅之间出现发黑现象,则所述测试样品已失效。
3.根据权利要求1所述的一种测试HJT电池片是否失效的方法,其特征在于:所述低温焊带为经过低温助焊剂浸泡过的低温焊带。
4.根据权利要求3所述的一种测试HJT电池片是否失效的方法,其特征在于:所述低温焊带的焊接温度为100℃-260℃,焊接时间为1-5s。
5.根据权利要求4所述的一种测试HJT电池片是否失效的方法,其特征在于:所述低温焊带的焊接温度为160℃-200℃,焊接时间为2-4s。
6.根据权利要求1所述的一种测试HJT电池片是否失效的方法,其特征在于:在所述HJT电池片的正表面以及背表面的所述低温焊带上焊接汇流条的步骤中,所述汇流条的焊接时间为1-3s。
7.根据权利要求1所述的一种测试HJT电池片是否失效的方法,其特征在于:在层压过程中,所述将包裹后的所述HJT电池片放置在两层玻璃片之间,对其进行双玻层压。
8.根据权利要求7所述的一种测试HJT电池片是否失效的方法,其特征在于:所述包裹件配置为离型膜或层压高温布。
9.根据权利要求1所述的一种测试HJT电池片是否失效的方法,其特征在于:将所述测试样品浸泡在水煮箱中的测试水的步骤中,所述测试水的水温为80℃-120℃,所述测试样品的浸泡时间为1h-5h。
10.根据权利要求9所述的一种测试HJT电池片是否失效的方法,其特征在于:所述测试水为纯净水或去离子水。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于环晟光伏(江苏)有限公司,未经环晟光伏(江苏)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210268519.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造