[发明专利]一种用于隔振元件频域特性参数的获取方法、系统及装置

权利要求书

1.一种用于隔振元件频域特性参数的获取方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取隔振元件的轴向参数，所述轴向参数包括轴向激励力、轴向激励加速度以及轴向传递力；

获取隔振元件的横向参数，所述横向参数包括横向激励力、横向激励加速度以及横向传递力；

根据所述轴向参数获取所述隔振元件的轴向刚度和轴向阻尼；

根据所述横向参数获取所述隔振元件的横向刚度和横向阻尼。

2.根据权利要求1所述的一种用于隔振元件频域特性参数的获取方法，其特征在于，所述轴向参数采用所述隔振元件的轴向原点和跨点阻抗测试方法进行测量。

3.根据权利要求1所述的一种用于隔振元件频域特性参数的获取方法，其特征在于，所述横向参数采用所述隔振元件的横向原点和跨点阻抗测试方法进行测量。

4.根据权利要求1-3中任意一项所述的一种用于隔振元件频域特性参数的获取方法，其特征在于，所述轴向刚度、所述轴向阻尼、所述横向阻尼和/或所述横向刚度由下式获取：

k^*＝k(1+iη)；

其中，F₁表示所述轴向激励力或所述横向激励力，a₁表示所述轴向激励加速度或所述横向激励加速度，F₂表示所述轴向传递力或所述横向传递力，a₂表示所述轴向传递加速度或所述横向传递加速度，取值为0，k表示所述轴向刚度或所述横向刚度，η表示所述轴向阻尼或所述横向阻尼，m₁表示第一过渡板和被测隔振元件的上铁件质量，m₂表示第二过渡板和被测隔振元件的下铁件质量，i表示虚数，ω表示圆频率。

5.一种用于隔振元件频域特性参数的获取系统，其特征在于，包括：

第一获取模块，用于获取隔振元件的轴向参数，所述轴向参数包括轴向激励力、轴向激励加速度以及轴向传递力；

第二获取模块，用于获取隔振元件的横向参数，所述横向参数包括横向激励力、横向激励加速度以及横向传递力；

计算模块，用于根据所述轴向参数获取所述隔振元件的轴向刚度和轴向阻尼，以及根据所述横向参数获取所述隔振元件的横向刚度和横向阻尼。

6.根据权利要求5所述的一种用于隔振元件频域特性参数的获取系统，其特征在于，所述轴向参数采用所述隔振元件的轴向原点和跨点阻抗测试方法进行测量。

7.根据权利要求5所述的一种用于隔振元件频域特性参数的获取系统，其特征在于，所述横向参数采用所述隔振元件的横向原点和跨点阻抗测试方法进行测量。

8.根据权利要求5-7中任意一项所述的一种用于隔振元件频域特性参数的获取系统，其特征在于，所述计算模块按下式计算所述轴向刚度、所述轴向阻尼、所述横向阻尼和/或所述横向刚度：

k^*＝k(1+iη）；

其中，F₁表示所述轴向激励力或所述横向激励力，a₁表示所述轴向激励加速度或所述横向激励加速度，F₂表示所述轴向传递力或所述横向传递力，a₂表示所述轴向传递加速度或所述横向传递加速度，取值为0，k表示所述轴向刚度或所述横向刚度，η表示所述轴向阻尼或所述横向阻尼，m₁表示第一过渡板和被测隔振元件的上铁件质量，m₂表示第二过渡板和被测隔振元件的下铁件质量，i表示虚数，ω表示圆频率。

9.一种电子装置，其特征在于，包括处理器和存储器；

所述存储器，用于存储所述处理器可执行指令；

所述处理器，被配置为执行如权利要求1-4中任意一项所述的一种用于隔振元件频域特性参数的获取方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，包括存储的计算机程序，所述计算机程序运行时执行如权利要求1-4中任意一项所述的一种用于隔振元件频域特性参数的获取方法。