[发明专利]一种双抗双硅透明离型膜质量检测装置及其检测方法

权利要求书

1.一种双抗双硅透明离型膜质量检测装置，包括涂胶压实机构(5)、检测机构(4)、切割机构(3)、支撑机构(2)和收卷机构(1)，其特征在于，所述涂胶压实机构(5)侧方设置有支撑机构(2)，支撑机构(2)上设置有切割机构(3)，切割机构(3)上设置有检测机构(4)，支撑机构(2)侧方设置有收卷机构(1)；

所述收卷机构(1)包括两个收卷座(11)，收卷座(11)上表面设置有收卷固定块(12)，收卷座(11)上转动连接有收卷辊(13)，收卷座(11)右侧设置有驱动电机(14)，驱动电机(14)输出端设置有连接器(15)，连接器(15)和收卷辊(13)连接；

所述涂胶压实机构(5)包括胶水箱(51)，胶水箱(51)上表面设置有胶水泵(52)，胶水泵(52)右侧连接有胶水管(53)，胶水管(53)为硬质材料，胶水箱(51)靠近胶水管(53)的侧方设置有两个对称分布的上胶座(56)，上胶座(56)之间转动连接有两个上胶辊(55)，上胶辊(55)侧方设置有上胶头(54)，上胶头(54)设置在胶水管(53)上，上胶头(54)靠近上胶辊(55)的一侧上部开有上涂胶面(543)，上胶头(54)靠近上胶辊(55)一侧的下部开有下涂胶面(544)，上胶座(56)前方侧面设置有两个对称分布的第一压紧座(57)，第一压紧座(57)之间转动连接有两个压紧辊(58)；

所述上胶头(54)两侧设置有两个对称分布的上回收头(541)，上回收头(541)下方设置有下回收头(542)，上回收头(541)上表面开有向内侧倾斜的上回收斜面(5411)，上回收头(541)靠近上胶辊(55)的侧面设置有重复涂抹面(5412)，下回收头(542)下表面设置有倾斜的下回收斜面(5421)，下回收头(542)下方设置有回收槽(5422)。

2.根据权利要求1所述的一种双抗双硅透明离型膜质量检测装置，其特征在于，所述支撑机构(2)包括设置在压紧辊(58)前方的工作台(21)，工作台(21)上设置有两个平行分布的滑道(23)，工作台(21)上表面靠近边缘的位置设置有驱动气缸(22)。

3.根据权利要求2所述的一种双抗双硅透明离型膜质量检测装置，其特征在于，所述切割机构(3)包括和驱动气缸(22)输出端固定连接的升降底座(32)，升降底座(32)可在滑道(23)之间滑动，升降底座(32)中部固定有立柱(33)，立柱(33)顶部固定有固定台(36)，固定台(36)下表面固定有两个平行分布的伸缩缸(35)，伸缩缸(35)输出端固定有升降台(34)，升降台(34)和立柱(33)滑动连接。

4.根据权利要求3所述的一种双抗双硅透明离型膜质量检测装置，其特征在于，所述升降底座(32)远离驱动气缸(22)的一侧固定有切割底座(31)，切割底座(31)上表面开有四个阵列分布的固定孔(311)，升降台(34)远离驱动气缸(22)的侧面固定有切割台(37)，切割台(37)下表面两侧设置有切刀(371)，切割台(37)远离驱动气缸(22)的位置开有检测槽(373)，切割台(37)下表面设置有四个阵列分布的固定头(372)，固定头(372)和固定孔(311)配合。

5.根据权利要求4所述的一种双抗双硅透明离型膜质量检测装置，其特征在于，所述检测机构(4)包括设置在切割台(37)上表面的两个检测座(41)，检测座(41)之间转动连接有齿轮(42)，检测座(41)外侧设置有电机(44)，齿轮(42)下方设置有齿条(43)，齿条(43)右端固定连接有恒压气缸(45)，恒压气缸(45)右侧设置有检测杆(46)。