[发明专利]抗单粒子翻转的低功耗SRAM存储单元电路及存储器在审

专利信息
申请号: 202210301952.1 申请日: 2022-03-25
公开(公告)号: CN114708894A 公开(公告)日: 2022-07-05
发明(设计)人: 秦家军;常泽光;赵雷;安琪 申请(专利权)人: 中国科学技术大学
主分类号: G11C11/412 分类号: G11C11/412;G11C11/417
代理公司: 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 代理人: 郑立明;付久春
地址: 230026 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 粒子 翻转 功耗 sram 存储 单元 电路 存储器
【权利要求书】:

1.一种抗单粒子翻转的低功耗SRAM存储单元电路,其特征在于,包括:

七个NMOS管和四个PMOS管;其中,

第一NMOS管MN1的栅极、第一PMOS管MP1的栅极、第七NMOS管MN7的源极和第五NMOS管MN5的源极电性连接;

第二NMOS管MN2的栅极、第二PMOS管MP2的栅极、第四NMOS管MN4的漏极、第四PMOS管MP4的漏极、第三NMOS管MN3的源极、第三PMOS管MP3的源极和第七NMOS管MN7的漏极电性连接;

第一NMOS管MN1的漏极、第二NMOS管MN2的源极和第三NMOS管MN3的漏极电性连接;

第一PMOS管MP1的漏极、第二PMOS管MP2的源极和第三PMOS管MP3的漏极电性连接;

第二NMOS管MN2的漏极、第二PMOS管MP2的漏极、第三NMOS管MN3的栅极、第三PMOS管MP3的栅极、第四NMOS管MN4的栅极、第四PMOS管MP4的栅极和第六NMOS管MN6的源极电性连接;

所述第五NMOS管MN5的栅极与第六NMOS管MN6的栅极均与字线WL电性连接;

所述第七NMOS管MN7的栅极与写控制线CL电性连接;

所述第五NMOS管MN5的漏极与第一位线BLB电性连接;

所述第六NMOS管MN6的漏极与第二位线BL电性连接;

所述第一NMOS管MN1的源极、第四NMOS管MN4的源极和所有NMOS管的体端均接地GND;

所述第一PMOS管MP1的源极、第四PMOS管MP4的源极和所有PMOS管的体端均连接电源VDD。

2.根据权利要求1所述的抗单粒子翻转的低功耗SRAM存储单元电路,其特征在于,所述第二PMOS管MP2的漏极为第一存储节点Q;所述第四PMOS管MP4的漏极为第二存储节点Qb;

所述第一存储节点Q与所述第二存储节点Qb为互锁的节点。

3.一种抗单粒子翻转的低功耗SRAM存储器,其特征在于,其存储电路采用权利要求1或2所述的抗单粒子翻转的低功耗SRAM存储单元电路。

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