[发明专利]气固两相流流动参数测量方法、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种气固两相流流动参数测量方法，其特征在于，包括：

获取待测区域电容向量，重建出待测区域的实介电常数分布；

基于重建出的实介电常数分布，在假设颗粒水分的情况下，得到颗粒浓度分布与颗粒水分；

基于颗粒浓度分布与颗粒水分，得到微波频段测量区域的复介电常数分布情况；

根据得到的微波频段复介电常数分布情况，计算复介电常数分布情况下微波的衰减情况；

设定对比值，根据计算得到的复介电常数分布情况下微波的衰减与实际测量得到的微波衰减的对比，修正假设的颗粒水分满足对比值；将满足对比值的颗粒水分作为最终的颗粒水分。

2.根据权利要求1所述的气固两相流流动参数测量方法，其特征在于，基于颗粒浓度分布与颗粒水分，得到微波频段测量区域的复介电常数分布情况，包括：

计算混合物的介电常数实部：

式中，ε’_M是微波频段下混合物等效介电常数的实部，ε’_D-M和ε’_w-M分别是干燥物料和水在微波频段的介电常数实部；

计算混合物的介电常数虚部：

式中，ε”_M是微波频段下混合物等效介电常数的虚部，ε”_D-M和ε”_w-M分别是干燥物料和水在微波频段的介电常数虚部；

得到微波频段测量区域的复介电常数分布情况：

ε_M＝ε’_M-iε”_M

式中，ε_M为微波频段的复介电常数，ε’_M为微波频段混合物等效介电常数的实部，ε”_M为微波频段混合物等效介电常数的虚部，i为虚数单位。

3.根据权利要求1所述的气固两相流流动参数测量方法，其特征在于，修正假设的颗粒水分满足对比值的方法是：

设定对比值δ；

比较计算得到的复介电常数分布情况下微波的衰减与实际测量得到的微波衰减，如果α^Nα⁰则增加水分W_N，如果α^Nα⁰则减少水分W_N，重复计算得到的复介电常数分布情况下微波的衰减直至|α^N-α⁰|δ收敛；

满足收敛后，输出颗粒浓度分布与水分含量。

4.根据权利要求3所述的气固两相流流动参数测量方法，其特征在于，对比值δ取值为0.1％～0.5％。

5.根据权利要求1所述的气固两相流流动参数测量方法，其特征在于，获取待测区域电容向量，重建出待测区域的实介电常数分布的方法是基于介电常数与电容向量之间的映射关系。

6.根据权利要求5所述的气固两相流流动参数测量方法，其特征在于，介电常数与电容向量之间的映射关系抽象为：

λ＝S·g

式中，λ是归一化电容向量，S是灵敏场矩阵，g是归一化介电常数。

7.根据权利要求6所述的气固两相流流动参数测量方法，其特征在于，根据介电常数与电容向量之间的映射关系，得到介电常数的近似估计

通过上述重建过程求得的归一化介电常数的近似估计再通过归一化的反过程，还原为真实的实介电常数分布ε’₀。

8.一种电子设备，其特征在于，包括：

一个或多个处理器；

存储器，用于存储一个或多个程序；

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-7中任一项所述的气固两相流流动参数测量方法。

9.一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的气固两相流流动参数测量方法。