[发明专利]微流控检测芯片

说明书

本发明是一种微流控检测芯片，其特征在于：作用层、弹性膜及主体层依次贴合固定，主流道负压口与负压机连通，能够使主流道内产生负压，并供进液口内的检测液依次流入每个一级井内，二级井正负压口及三级井正负压口分别与正负压机连通，能够使二级井正负压流道及三级井正负压流道内产生正压，供弹性膜填充至二级井及三级井内，关闭正负压机，通过释放弹性膜产生负压，能够使一级井内的所述检测液分别流入二级井及三级井内，本发明让RPA与CRISPR分别在两个微井中进行分步检测，是更加理想的检测流程，能够提高阳性检出率，能够比一步法更好推算初始模板量。

技术领域

本发明涉及一种微流控检测芯片。

背景技术

传统不分级、串联微井，虽然分液过程简单，但不利于多指标检测，各微井的检测试剂可能被流经各微井的液体带入其它微井，干扰其它指标检测结果判读，传统的二级微井各自不独立，干扰出现概率较高，传统串联微井微流控结合RPA-CRISPR检测体系，进行一步法检测，即RPA扩增和CRISPR检测同时进行，当待检测核酸量较低时，可能尚未被充分RPA，就被CRISPR进行切割检测，导致假阴性率升高。

发明内容

本发明提供一种微流控检测芯片，让RPA与CRISPR分别在两个微井中进行分步检测，是更加理想的检测流程，能够提高阳性检出率，能够比一步法更好推算初始模板量。

为了实现上述目的，本发明采用的技术方案是：

一种微流控检测芯片，其特征在于：作用层、弹性膜及主体层依次贴合固定；

所述作用层的一端贯通设置加液口，所述作用层的另一端设置主流道负压口、二级井正负压口及三级井正负压口，所述作用层上设置二级井正负压流道及三级井正负压流道，所述二级井正负压口与所述二级井正负压流道连通，所述三级井正负压口与所述三级井正负压流道连通，所述主流道负压口、所述二级井正负压口及所述三级井正负压口分别于所述作用层的侧壁开口；

所述弹性膜上分别贯通设置主避让口、二级井避让口、三级井避让口及加液避让口，并依次分别与所述主流道负压口、所述二级井正负压口、所述三级井正负压口及所述加液口位置相对应；

所述主体层的两端分别设置负压抽吸口及进液口，所述负压抽吸口与所述主流道负压口位置相对应，所述进液口与所述加液口位置相对应，所述负压抽吸口通过主流道与所述进液口连通，所述主流道上设置若干个一级井，每个所述一级井分别通过第一侧壁分支流道与每个二级井连通，每个所述二级井分别通过第二侧壁分支流道与每个三级井连通，所述二级井与所述二级井正负压流道位置相对应，所述三级井与所述三级井正负压流道位置相对应；

所述主流道负压口通过所述侧壁开口与负压机连通，能够使所述主流道内产生负压，并供所述进液口内的检测液依次流入每个所述一级井内，所述二级井正负压口及所述三级井正负压口分别通过所述侧壁开口与正负压机连通，能够使所述二级井正负压流道及所述三级井正负压流道内产生正压，供所述弹性膜填充至所述二级井及所述三级井内，关闭所述正负压机，通过释放所述弹性膜产生负压，能够使所述一级井内的所述检测液分别流入所述二级井及所述三级井内。

所述微流控检测芯片，其中：所述作用层及所述主体层为透明材料，便于观察所述检测液流动状态。

所述微流控检测芯片，其中：所述弹性膜为透明并具有弹性的材质，厚度小于0.2mm，便于观察荧光状态。

本发明的有益效果：能够实现多指标平行扩增、分步检测，让RPA与CRISPR分别在两个微井中进行分步检测，是更加理想的检测流程，能够提高阳性检出率，能够比一步法更好推算初始模板量。

附图说明

图1为微流控检测芯片的结构图。

图2为微流控检测芯片的作用层结构图。

图3为微流控检测芯片的作用层另一视角结构图。