[发明专利]光束准直设备、方法、装置、存储介质和电子装置

说明书

本发明实施例提供了一种光束准直设备、方法、装置、存储介质和电子装置，其中，该设备包括：第一准直镜组、光束聚焦镜组和第二准直镜组，其中，光第一准直镜组与光束聚焦镜组之间的第一距离以及光束聚焦镜组与第二准直镜组之间的第二距离被设置为允许调整，第二准直镜组的位置固定；第一准直镜组，用于对初始光束进行准直，得到准直光束；光束聚焦镜组，用于对准直光束进行聚焦，得到聚焦光束；第二准直镜组，用于对聚焦光束进行准直，得到目标光斑尺寸的目标光束。通过本发明，解决了相关技术中存在的光束检测设备对光束的检测效率较低的问题，达到了提高光束检测设备对光束的检测效率的效果。

技术领域

本发明实施例涉及激光处理领域，具体而言，涉及一种光束准直设备、方法、装置、存储介质和电子装置。

背景技术

近年来，随着制造业技术的快速发展，激光也逐渐在各个领域被广泛的应用，由于其具有亮度高、转换效率高、体积小、寿命长、激光光束质量好等优点，广泛应用于材料加工，如打标、打孔、焊接、切割、清洗、涂覆等以及光通信、光谱成像、医疗等领域。随着工业加工技术的精度要求越来越高，对使用的激光束的空间形态分布、能量分布等光束信息的要求也越来越高，一些实际应用中要求激光器输出的激光束能量呈特定的分布形式、空间形态呈特定分布状态，这就衍生了激光光束的分析测量。

目前行业内在进行光束的分析测量时，需要对待测光束进行光束缩放处理，通过使用准直光束系统进行准直处理，使得准直后的光束能够符合测量设备的光束输入要求，但是由于使用的激光器的型号不同，激光器输出的光束的光斑尺寸也不同，这就导致了用同一参数准直光学系统进行准直后，激光器输出的光斑大小及后端焦距差异较大，因此，当前在对不同的光束进行分析和测量前，需要手动更换不同参数的准直光学系统，操作十分的复杂，并且，在更换了不同的准直光学系统后，后端光路也随之不匹配，致使准直后的光束无法满足光束分析测量设备的需求。

针对相关技术中存在的光束检测设备对光束的检测效率较低的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种光束准直设备、方法、装置、存储介质和电子装置，以至少解决相关技术中存在的光束检测设备对光束的检测效率较低的问题。

根据本发明的一个实施例，提供了一种光束准直设备，包括：第一准直镜组、光束聚焦镜组和第二准直镜组，其中，所述光束聚焦镜组设置在所述第一准直镜组和所述第二准直镜组之间，第一准直镜组、光束聚焦镜组和第二准直镜组的光路同轴，所述第一准直镜组与所述光束聚焦镜组之间的第一距离以及所述光束聚焦镜组与所述第二准直镜组之间的第二距离被设置为允许调整，所述第二准直镜组的位置固定；所述第一准直镜组，用于对初始光束进行准直，得到准直光束；所述光束聚焦镜组，用于对所述准直光束进行聚焦，得到聚焦光束；所述第二准直镜组，用于对所述聚焦光束进行准直，得到目标光斑尺寸的目标光束，其中，所述目标光束用于输入光束检测设备，所述光束检测设备的目标接口尺寸与所述目标光斑尺寸匹配。

可选的，所述第一准直镜组包括：第一透镜和第二透镜，其中，所述第一透镜和所述第二透镜之间的距离为固定值；所述光束聚焦镜组包括：第三透镜和第四透镜，其中，所述第三透镜和所述第四透镜之间的距离为固定值；所述第二准直镜组包括：第五透镜，其中，所述第五透镜的焦点与所述聚焦光束的焦点重合。

可选的，所述第一透镜、所述第二透镜、所述第三透镜、所述第四透镜、所述第五透镜的折射率均为目标折射率，其中，所述目标折射率落在目标折射率区间内，在所述目标折射率区间内的透镜满足对光束的目标色散条件。

可选的，所述第一透镜的光束输入面的曲率半径为正值，所述第一透镜的光束输出面的曲率半径为正值；所述第二透镜的光束输入面的曲率半径为正值，所述第二透镜的光束输出面的曲率半径为负值；所述第三透镜的光束输入面的曲率半径为负值，所述第三透镜的光束输出面的曲率半径为负值；所述第四透镜的光束输入面的曲率半径为正值，所述第四透镜的光束输出面的曲率半径为正值；所述第五透镜的光束输入面的曲率半径为正值，所述第五透镜的光束输出面的曲率半径为正值。