[发明专利]耳机测试工站的校准方法、装置、耳机测试工站及介质

权利要求书

1.一种耳机测试工站的校准方法，其特征在于，所述耳机测试工站的校准方法包括：

获取耳机测试工站针对耳机产品进行功能测试的测试曲线结果，并检测所述测试曲线结果是否处于预设的阈值界限范围；

若检测到是，则根据所述测试曲线结果的偏移幅度触发针对所述测试曲线结果进行校准；

若检测到否，则针对所述测试曲线结果执行偏移得到偏移后的测试曲线结果，并在所述偏移后的测试曲线结果处于所述阈值界限范围时，触发针对所述耳机测试工站进行校准。

2.如权利要求1所述的耳机测试工站的校准方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取与所述测试曲线结果邻近的多组测试曲线结果，并确定所述多组测试曲线结果是否执行过偏移；

在确定所述多组测试曲线结果均执行过偏移时，执行所述针对所述测试曲线结果执行偏移得到偏移后的测试曲线结果的步骤。

3.如权利要求1所述的耳机测试工站的校准方法，其特征在于，在所述触发针对所述耳机测试工站进行校准的步骤之后，所述方法还包括：

获取进行校准后的耳机测试工站针对所述耳机产品进行功能测试的新的测试曲线结果，并检测所述新的测试曲线结果是否处于所述阈值界限范围；

若检测到所述新的测试曲线结果不处于所述阈值界限范围，则确定所述耳机产品为不良品并输出对应提示。

4.如权利要求1所述的耳机测试工站的校准方法，其特征在于，所述方法还包括：

计算所述测试曲线结果与预设理论曲线结果之间的区域面积以确定所述测试曲线结果的偏移幅度。

5.如权利要求4所述的耳机测试工站的校准方法，其特征在于，所述根据所述测试曲线结果的偏移幅度触发针对所述测试曲线结果进行校准的步骤包括：

检测所述偏移幅度是否超过预设的偏移幅度阈值；

若检测到所述偏移幅度超过所述偏移幅度阈值，则触发针对所述测试曲线结果进行校准。

6.如权利要求5所述的耳机测试工站的校准方法，其特征在于，所述触发针对所述测试曲线结果进行校准的步骤包括：

根据预设理论曲线结果针对所述测试曲线结果执行偏移直到所述预设理论曲线结果与执行偏移后的测试曲线结果之间的重合面积，达到预设的重合面积最小条件。

7.如权利要求1至6任一项所述的耳机测试工站的校准方法，其特征在于，所述方法还包括：

调用所述耳机测试工站针对预设的耳机标样产品进行功能测试，并将针对耳机标样产品进行功能测试得到的测试曲线结果作为预设理论曲线结果进行存储。

8.一种耳机测试工站的校准装置，其特征在于，所述耳机测试工站的校准装置包括：

检测模块，用于获取耳机测试工站针对耳机产品进行功能测试的测试曲线结果，并检测所述测试曲线结果是否处于预设的阈值界限范围；

第一校准模块，用于若所述检测模块检测到是，则根据所述测试曲线结果的偏移幅度触发针对所述测试曲线结果进行校准；

第二校准模块，用于若所述检测模块检测到否，则针对所述测试曲线结果执行偏移得到偏移后的测试曲线结果，并在所述偏移后的测试曲线结果处于所述阈值界限范围时，触发针对所述耳机测试工站进行校准。

9.一种耳机测试工站，其特征在于，所述耳机测试工站包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的耳机测试工站的校准程序，所述耳机测试工站的校准程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的耳机测试工站的校准方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有耳机测试工站的校准程序，所述耳机测试工站的校准程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的耳机测试工站的校准方法的步骤。