[发明专利]检测电路及其驱动方法和显示装置

权利要求书

1.一种检测电路，其特征在于，所述检测电路包括多个驱动电路和多条读取信号线，一条所述读取信号线耦接多个所述驱动电路；

所述检测电路还包括预配置模块，所述预配置模块耦接所述读取信号线，所述预配置模块用于向所述读取信号线输出预置信号以对所述读取信号线上的电位进行预先配置。

2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，

所述驱动电路包括复位取样模块、驱动模块、控制模块和检测单元；

所述复位取样模块与所述检测单元耦接，所述复位取样模块用于对所述检测单元进行复位，所述复位取样模块还用于接收所述检测单元反馈的电信号并进行存储；

所述驱动模块与所述复位取样模块耦接，所述驱动模块用于读取所述复位取样模块存储的电信号并将电信号进行放大；

所述控制模块与所述驱动模块和所述读取信号线分别耦接，所述控制模块用于将所述驱动模块放大后的电信号提供给所述读取信号线。

3.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，

所述复位取样模块包括第一晶体管和存储电容，所述驱动模块包括第二晶体管，所述控制模块包括第三晶体管；

所述第一晶体管的控制端耦接第一控制信号线，所述第一晶体管的第一极耦接第一电压信号线，所述第一晶体管的第二极耦接所述检测单元；所述存储电容的第一极板耦接所述检测单元，所述存储电容的第二极板耦接第二电压信号线；

所述第二晶体管的控制端耦接所述存储电容的第一极板，所述第二晶体管的第一极耦接所述存储电容的第二极板，所述第二晶体管的第二极耦接所述第三晶体管的第一极；

所述第三晶体管的控制极耦接读取扫描线，所述第三晶体管的第二极耦接所述读取信号线。

4.根据权利要求2所述的检测电路，其特征在于，

所述检测单元包括堆叠的驱动电极、压电材料层和接收电极，所述压电材料层位于所述驱动电极和所述接收电极之间；所述接收电极耦接所述复位取样模块。

5.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，

所述预配置模块复用至少一个所述驱动电路。

6.根据权利要求5所述的检测电路，其特征在于，

所述检测电路的工作周期包括预置阶段和检测阶段；其中，

在所述预置阶段，至少一个所述驱动电路开启向所述读取信号线输出所述预置信号；

在所述检测阶段，至少部分所述驱动电路开启向所述读取信号线输出检测信号。

7.根据权利要求5所述的检测电路，其特征在于，

多个驱动电路排列成驱动电路阵列，所述驱动电路阵列包括多个驱动电路行和多个驱动电路列，所述驱动电路行沿第一方向延伸、且沿第二方向排列，所述驱动电路列沿所述第二方向延伸、且沿所述第一方向排列，所述第一方向和所述第二方向相互交叉；所述读取信号线沿所述第二方向延伸、且与一个所述驱动电路列耦接；

所述预配置模块复用至少一个所述驱动电路行。

8.根据权利要求6所述的检测电路，其特征在于，所述检测电路还包括检测移位电路，所述检测移位电路包括级联的n个移位寄存器，n为正整数，且n≥2；n个所述移位寄存器分别耦接n个所述驱动电路行；其中，

与第1级所述移位寄存器耦接的所述驱动电路行为第1级驱动电路行，与第n级所述移位寄存器耦接的所述驱动电路行为第n级驱动电路行；

所述预配置模块复用位于所述第1级驱动电路行远离所述第n级驱动电路行的一侧的至少一个所述驱动电路行，和/或，所述预配置模块复用位于所述第n级驱动电路行远离所述第1级驱动电路行的一侧的至少一个所述驱动电路行。

9.根据权利要求5所述的检测电路，其特征在于，

所述检测电路包括读取扫描线和预扫描控制线，所述驱动电路与所述读取扫描线耦接；所述预配置模块与所述预扫描控制线耦接；其中，

至少一条所述读取扫描线复用为所述预扫描控制线。