[发明专利]基于虚拟光学层析技术高速解析物体表面形貌的系统在审

专利信息
申请号: 202210343084.3 申请日: 2022-03-31
公开(公告)号: CN114739318A 公开(公告)日: 2022-07-12
发明(设计)人: 王金玉;李俊;杜凯 申请(专利权)人: 杭州今誉信息科技有限公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 北京沁优知识产权代理有限公司 11684 代理人: 方仕杰
地址: 310000 浙江省杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 基于 虚拟 光学 层析 技术 高速 解析 物体 表面 形貌 系统
【权利要求书】:

1.基于虚拟光学层析技术高速解析物体表面形貌的系统,包括若干根光纤(31),所述光纤(31)均连接有光纤开关(21),所述光纤开关(21)控制每根光纤(31)的数据传输通道的关断,其特征在于:所述光纤开关(21)连接有准直仪(22),通过所述准直仪(22)的光信号射到分束器(1)中;

所述分束器(1)的下表面依次设置有参考表面(2)和物体表面(3),所述参考表面(2)上设有机械振荡器件(201),由所述机械振荡器件(201)带动参考表面(2)移动,通过所述分束器(1)的光信号依次射到所述参考表面(2)和物体表面(3)上,再由所述参考表面(2)和物体表面(3)反射到物镜(13)中,经过物镜(13)的光信号传输至图像捕捉器件(14)中,由图像捕捉器件(14)获取物体表面(3)的参数;

所述准直仪(22)发出的照射光波在坐标系X轴和Y轴上的波分量为EX和EY,EX和EY之间的相位差为δ,基于相位差δ获取参考表面(2)和物体表面(3)之间的距离,相位差δ通过四帧重叠策略得出,所述四帧重叠策略为:

式中,a为背景强度,b为正弦条纹的调制值,为要测量的相位值,可为任意的参考相位值,为照射光波的坐标,为检测条纹的图案。

2.根据权利要求1所述的基于虚拟光学层析技术高速解析物体表面形貌的系统,其特征在于:所述四帧重叠策略中的计算公式为:

i=1、2……N。

3.根据权利要求1所述的基于虚拟光学层析技术高速解析物体表面形貌的系统,其特征在于:所述分束器(1)的偏移角度为相对于所述照射光波成45°角。

4.根据权利要求1所述的基于虚拟光学层析技术高速解析物体表面形貌的系统,其特征在于:所述机械振荡器件(201)为位移台、压电驱动器、MEMS触发器中的一种,通过所述机械振荡器件(201)移动参考表面(2),每移动一个位移,所述图像捕捉器件(14)获得一个参考图像。

5.根据权利要求1所述的基于虚拟光学层析技术高速解析物体表面形貌的系统,其特征在于:所述参考表面(2)为线栅偏振器。

6.根据权利要求1所述的基于虚拟光学层析技术高速解析物体表面形貌的系统,其特征在于:所述参考表面(2)和物体表面(3)反射的光波分别为参考反射光波和表面反射光波,所述参考反射光波为在参考表面(2)处反射的垂直线偏振光波。

7.根据权利要求1所述的基于虚拟光学层析技术高速解析物体表面形貌的系统,其特征在于:所述图像捕捉器件(14)连接有处理器和存储器,所述图像捕捉器件(14)将获取的图像传输至处理器中,所述处理器分析图像参数并存储至所述存储器中。

8.根据权利要求7所述的基于虚拟光学层析技术高速解析物体表面形貌的系统,其特征在于:所述存储器中储存的图像参数包括光强度数据、波长数据、频率信息、光波反射数据、光波数据、物体形貌数据。

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